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ARM建議引入庫米定律：每瓦性能可取代摩爾定律

• ARM的研究員及技術(shù)總監(jiān)Rob Aitken稱芯片生產(chǎn)范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設(shè)計的指標(biāo)，取代原先的摩爾定律。7月19日消息，ARM的研究員及技術(shù)總監(jiān)Rob Aitken稱：芯片生產(chǎn)范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設(shè)計的指標(biāo)，取代原先的摩爾定律。每瓦性能是其引入新范式標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)旨在讓工程師以更少的功耗達(dá)到指定的性能指數(shù)。根據(jù)摩爾的說法，芯片上的晶體管密度每18個月就會翻一番，隨之而來的便是芯片性能的翻倍。Rob Aitken表示目前芯片領(lǐng)域遇到瓶頸，因為目前工藝逼近原子水平，
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