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          延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測(cè)試一定要做的事兒!

          • 進(jìn)行雙脈沖測(cè)試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性,可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期?;陔p脈沖測(cè)試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情,包括:通過對(duì)開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書、計(jì)算開關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開關(guān)特性的對(duì)比等。測(cè)量延時(shí)的影響被測(cè)信號(hào)在測(cè)量過程中會(huì)經(jīng)歷兩次延時(shí),不同信號(hào)所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí),索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級(jí)別,對(duì)于
          • 關(guān)鍵字: Tektronix  延時(shí)校準(zhǔn)  脈沖測(cè)試  
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          延時(shí)校準(zhǔn)介紹

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