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惠瑞捷增加并行機制以縮減存儲器測試開發(fā)時間
- 惠瑞捷半導體科技宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲器制造商在應用V5000e進行工程，測試開發(fā)和調試時獲得并行測試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測試12顆芯片（DUT），減少產線上的操作人員的時間，同時大幅度提高了總產能。此矩陣還將V5000e的引腳數(shù)量從128提高到768個測試器資源引腳，從而能夠測量具有更高引腳數(shù)量的多種類型存儲器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。 由于產品壽命
- 關鍵字： 并行機制 測量 測試 存儲器測試 單片機 惠瑞捷 開發(fā)時間 嵌入式系統(tǒng) 存儲器
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