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集成電路測(cè)試機(jī)的挑戰(zhàn)與趨勢(shì)

　　迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036）　　摘?要：介紹了集成電路測(cè)試機(jī)（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案?！　￡P(guān)鍵詞：集成電路；測(cè)試；微調(diào)；trim　　集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE，測(cè)試機(jī)）是檢測(cè)芯片功能和性能的專(zhuān)用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測(cè)，2019年中國(guó)測(cè)試機(jī)占據(jù)后道檢測(cè)設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測(cè)試的趨勢(shì)是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪(fǎng)問(wèn)了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士?！　? 芯片測(cè)試的新挑戰(zhàn)　　當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
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TI 的阻抗跟蹤 TM 電池電量計(jì)技術(shù)是一種功能強(qiáng)大的自適應(yīng)算法，其會(huì)記住電池特性隨時(shí)間的變化情況。將這種算法與電池組具體的化學(xué)屬性結(jié)合可以非常準(zhǔn)確地知道電池的充電狀態(tài) (SOC)，從而延長(zhǎng)電池組使用壽命。然而，更
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