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形式驗證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計？

• 引言隨著集成電路規(guī)模的不斷擴大，從設(shè)計到流片（Tape-out）的全流程中，驗證環(huán)節(jié)的核心地位日益凸顯。有效的驗證不僅是設(shè)計完美的基石，更是確保電路在實際應(yīng)用中穩(wěn)定運行的保障。尤為關(guān)鍵的是，邏輯或功能錯誤是導(dǎo)致流片失敗的首要原因，占比高達(dá)50%。功能驗證正是解決這一難題的利器，它助力工程師精準(zhǔn)識別邏輯設(shè)計漏洞、性能不達(dá)標(biāo)問題以及設(shè)計代碼中的功能缺陷，從而最大限度地規(guī)避流片風(fēng)險。針對超大規(guī)模集成電路（VLSI）設(shè)計，目前功能驗證有兩種方法：動態(tài)仿真驗證和形式驗證（Formal Verification）。形
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