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技術的嵌入式文章進入技術的嵌入式技術社區(qū)

探討基于JTAG技術的嵌入式系統(tǒng)測試的各個階段

引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
關鍵字： JTAG 技術的嵌入式系統(tǒng)測試

共1條 1/1 1

技術的嵌入式介紹

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