抗擾測(cè)試 文章 進(jìn)入抗擾測(cè)試技術(shù)社區(qū)

實(shí)例分享！BMS采樣板針對(duì)低頻磁場(chǎng)抗擾測(cè)試解決方案

• 通常汽車零部件受到的磁場(chǎng)干擾可以分為內(nèi)部或外部干擾源干擾，其中內(nèi)部干擾源包括汽車的電動(dòng)馬達(dá)、制動(dòng)器等；而外部干擾源包括功率傳輸線、充電站等。低頻磁場(chǎng)抗擾測(cè)試 MFI 的方法是將 DUT 暴露在干擾磁場(chǎng)中進(jìn)行測(cè)試。輻射環(huán)可以產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，還可以用于小型 DUT 測(cè)試，或者采用多點(diǎn)放置的方法來測(cè)試大型 DUT。本文由ADI代理商駿龍科技工程師Ai Wei為大家介紹一種 BMS 采樣板針對(duì)低頻磁場(chǎng)抗擾測(cè)試的解決方案。MFI 測(cè)試設(shè)置低頻磁場(chǎng)抗擾 MFI 測(cè)試布置如下圖 (圖1) 所示，DUT 的每個(gè)面都要?jiǎng)澐殖?/li>
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