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          電池的損傷機(jī)理與故障預(yù)警

          • 0 引言 電池組突發(fā)失效是后備供電系統(tǒng)中的一大安全隱患,如何預(yù)防電池組突發(fā)失效是電池維護(hù)技術(shù)中具有挑戰(zhàn)性的課題。目前,電池組突發(fā)失效所呈現(xiàn)出的不可預(yù)知性成為了研究電池故障預(yù)警技術(shù)的原動力。實(shí)現(xiàn)電池故
          • 關(guān)鍵字: 預(yù)警  故障  機(jī)理  損傷  電池  

          VDMOS器件損傷的DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射預(yù)兆單元設(shè)計(jì)

          • 航天用DC/DC轉(zhuǎn)換器工作在太空輻射環(huán)境下,輻射損傷是其主要失效機(jī)理。DC/DC轉(zhuǎn)換器的可靠性關(guān)系到整個(gè)航天器的可靠性,國內(nèi)外廣泛研究了DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射損傷失效機(jī)理、失效模式和抗輻射篩選與加固措施。隨著
          • 關(guān)鍵字: DC  預(yù)兆  單元  設(shè)計(jì)  輻射  轉(zhuǎn)換器  器件  損傷  VDMOS  DC/DC轉(zhuǎn)換器  

          DC/DC輻照損傷與VDMOS器件1/f噪聲相關(guān)性研究

          • 通過對DC/DC轉(zhuǎn)換器低頻噪聲測試技術(shù)以及在y輻照前后電性能與1/f噪聲特性變化的對比分析,發(fā)現(xiàn)使用低頻噪聲表征DC/DC轉(zhuǎn)換器的可靠性是對傳統(tǒng)電參數(shù)表征方法的一種有效補(bǔ)充。對DC/DC轉(zhuǎn)換器輻照損傷與其內(nèi)部VDMOS器件1/f噪聲相關(guān)性進(jìn)行了研究,討論了引起DC/DC轉(zhuǎn)換器輻照失效的原因。
          • 關(guān)鍵字: DC  相關(guān)性  研究  噪聲  VDMOS  輻照  損傷  器件  轉(zhuǎn)換器  
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