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探針
探針 文章 進(jìn)入探針技術(shù)社區(qū)
測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化，道阻且長(zhǎng)
- 芯片測(cè)試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié)，主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)，以此判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn)，是否可以進(jìn)入市場(chǎng)。隨著產(chǎn)品進(jìn)入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時(shí)代，芯片內(nèi)部集成的模塊越來(lái)越多，生產(chǎn)制造過程中的失效模式也相應(yīng)增多，芯片測(cè)試的重要性凸顯。測(cè)試探針就是芯片測(cè)試過程中的重要零部件之一。測(cè)試探針通常與測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)配合使用，通過連接測(cè)試機(jī)來(lái)檢測(cè)芯片的導(dǎo)通、電流、功能和老化情況等性能指標(biāo)，篩選出存在設(shè)計(jì)缺陷和制造缺陷的產(chǎn)品
- 關(guān)鍵字： ?芯片測(cè)試 探針
一種水位檢測(cè)方案的探針失效分析與研究
- 一款帶水位檢測(cè)的產(chǎn)品在進(jìn)行加速老化壽命測(cè)試的時(shí)候發(fā)現(xiàn)水位檢測(cè)探針出現(xiàn)銹蝕、斷裂的故障，嚴(yán)重的還出現(xiàn)了水位檢測(cè)探針被銹蝕斷開的現(xiàn)象。經(jīng)過測(cè)試和分析，判斷為水位檢測(cè)電路設(shè)計(jì)缺陷，從而導(dǎo)致其中一根水位探針上電流過大引起的電解腐蝕和結(jié)垢問題。本文對(duì)失效原理進(jìn)行了分析并對(duì)電路設(shè)計(jì)進(jìn)行了改進(jìn)，有效提高了探針壽命。
- 關(guān)鍵字： 水位檢測(cè) 探針 腐蝕 結(jié)垢 TDS 202010
Pasternack推出擴(kuò)展至40GHz工作頻率且采用彈簧頂針設(shè)計(jì)的同軸射頻探針產(chǎn)品線
- 業(yè)界領(lǐng)先的射頻、微波及毫米波產(chǎn)品供應(yīng)商美國(guó)Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產(chǎn)品線擴(kuò)展至40GHz工作頻率范圍，以應(yīng)用于微波器件、高速通信及網(wǎng)絡(luò)領(lǐng)域?！ U(kuò)展后的Pasternack同軸射頻探針產(chǎn)品線共包括4種型號(hào)，其在直流~40GHz寬頻范圍內(nèi)的最大回波損耗為10dB。這些探針產(chǎn)品分為GS和GSG兩種構(gòu)型，間距為800或1500微米，并采用2.92mm接口。此外，此類射頻同軸探針均為鍍金探針，采用可在大角度范圍內(nèi)進(jìn)行探測(cè)的兼容彈簧頂針觸點(diǎn)，允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動(dòng)使用，并可通過
- 關(guān)鍵字： Pasternack 射頻探針 40GHz GS和GSG 探針 信號(hào)完整性測(cè)量
LED醫(yī)療應(yīng)用更進(jìn)一步 科學(xué)家開發(fā)超細(xì)LED探針
- 在找到治療阿爾茨海默癥的療法之前，科學(xué)家們需要開發(fā)出一種能夠讓他們更好地理解大腦神經(jīng)間是如何溝通的方案。而密歇根大學(xué)的研究人員們，最近就朝著這個(gè)目標(biāo)大幅邁進(jìn)了一步，并且開發(fā)出了當(dāng)前最小的腦植入式LED探針。在光遺傳學(xué)領(lǐng)域，植入光纖被用于刺激大腦細(xì)胞(讓其暴露于光脈沖下)，而第二個(gè)設(shè)備則會(huì)記錄下一步的反應(yīng)。 密歇根大學(xué)的科學(xué)家們表示，這樣的設(shè)置其實(shí)不能記錄神經(jīng)元見相互溝通的方式，但是他們的新型探針卻可以。 每根探針的寬度都小于0.1mm
- 關(guān)鍵字： LED 探針
一種新型的波導(dǎo)—微帶密封過渡結(jié)構(gòu)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 過渡結(jié)構(gòu) 探針 金屬桿 微帶密封
熱線測(cè)速計(jì)敏感元件的基本構(gòu)造
- 1．熱線探針熱線探針的簡(jiǎn)單模型如圖所示．細(xì)長(zhǎng)的金屬絲垂直于氣流方向安置，兩端固定在相對(duì)粗大的支架上，金屬絲由...
- 關(guān)鍵字： 熱線測(cè)速計(jì) 敏感元件 探針
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的關(guān)鍵問題之一――探針的接觸電阻
- 關(guān)鍵字：半導(dǎo)體參數(shù) 接觸電阻通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭，再通過測(cè)試頭至探針卡，然后通過探針至芯片
- 關(guān)鍵字： 半導(dǎo)體 參數(shù)測(cè)試 探針 接觸電阻
安捷倫科技與海力士半導(dǎo)體公司聯(lián)合推出用于驗(yàn)證 DDR、GDDR 存儲(chǔ)器的長(zhǎng)線 ZIF 探針
- 安捷倫科技公司宣布：安捷倫與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器產(chǎn)品供應(yīng)商――海力士半導(dǎo)體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長(zhǎng)線 ZIF（零插入力）探針，該探針經(jīng)過優(yōu)化，適用于 DDR（雙數(shù)據(jù)速率）和 GDDR（圖形雙數(shù)據(jù)速率）SDRAM 的驗(yàn)證測(cè)試。當(dāng)距離探測(cè)信號(hào)較遠(yuǎn)時(shí)，長(zhǎng)線 ZIF 探針使工程師能夠?qū)Ω咚傩盘?hào)進(jìn)行精確的測(cè)量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測(cè)系統(tǒng)結(jié)合使用，可提高每個(gè)焊接件的可用性并降低測(cè)試成本。
- 關(guān)鍵字： 安捷倫，海力士半導(dǎo)體，ZIF 探針
探針介紹
測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。 表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧?！ √结樃鶕?jù)電子測(cè)試用途可分為： A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品； B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品； C、 [ 查看詳細(xì) ]
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