EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
控制與測(cè)量
控制與測(cè)量 文章 進(jìn)入控制與測(cè)量技術(shù)社區(qū)
使用LabVIEW與PXI設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)裝置
- ??? "使用PXI平臺(tái)與NI LabVIEW編程環(huán)境，我們有效地開(kāi)發(fā)了試驗(yàn)裝置的控制與測(cè)量系統(tǒng)。硬件系統(tǒng)的配置為連接更多的輸入信號(hào)并使用新的測(cè)量模塊擴(kuò)展系統(tǒng)預(yù)留了很大的余地。因?yàn)槠淠K化的設(shè)計(jì)，我們可以實(shí)現(xiàn)更多的功能從而擴(kuò)展它的應(yīng)用范圍。此外，LabVIEW中隨時(shí)可用的信號(hào)分析功能使得這些功能的實(shí)現(xiàn)盡可能的簡(jiǎn)單。"– Bogdan Iwiński, Veritech Sp. z o.o.
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW 控制與測(cè)量
| 共1條 1/1 1 |
控制與測(cè)量介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條控制與測(cè)量!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)控制與測(cè)量的理解，并與今后在此搜索控制與測(cè)量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)控制與測(cè)量的理解，并與今后在此搜索控制與測(cè)量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473