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控片檢測(cè)系統(tǒng)
控片檢測(cè)系統(tǒng) 文章 進(jìn)入控片檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)社區(qū)
KLA-TENCOR 推出全新控片檢測(cè)系統(tǒng) SURFSCAN SP2XP
- 日前，KLA-Tencor 公司推出了 Surfscan® SP2XP，這是一套專供集成電路(IC) 市場(chǎng)采用的全新控片檢測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)是根據(jù)去年在晶片制造市場(chǎng)上推出并大獲成功的同名姊妹機(jī)臺(tái)開(kāi)發(fā)而成。全新的 Surfscan SP2XP 對(duì)硅、多晶硅和金屬薄膜上的缺陷靈敏度更高，且與其上一代業(yè)界領(lǐng)先的產(chǎn)品 Surfscan SP2 相比，在按缺陷類型和大小來(lái)分類方面具有更強(qiáng)能力。其特性還包括真空承載裝置和業(yè)界最佳的生產(chǎn)能力。這些功能是為芯片制造商在晶片廠提供卓越的制程機(jī)臺(tái)監(jiān)控而設(shè)計(jì)，使其能將領(lǐng)
- 關(guān)鍵字： 集成電路 IC 控片檢測(cè)系統(tǒng) KLA-Tencor
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控片檢測(cè)系統(tǒng)介紹
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