- 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法,特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性,給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法[1].另一種方法是為解
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分析 求解 方法 介紹 異性 方程 矢量 散射 積分 三維
- 摘要:目標(biāo)雷達(dá)散射截面(RCS),在復(fù)平面可以表示為復(fù)頻域的函數(shù)。根據(jù)奇點(diǎn)(SEM)展開(kāi)(留數(shù))方法,計(jì)算對(duì)目標(biāo)物體的散射奇點(diǎn)(留數(shù)),進(jìn)行射頻識(shí)別(RFID),是射頻識(shí)別的新思路。通過(guò)FEKO軟件,對(duì)蝶形無(wú)芯標(biāo)簽結(jié)構(gòu)進(jìn)行仿
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提取 研究 極點(diǎn) 分析 標(biāo)簽 散射 射頻
- 摘要:微米顆粒散射光信號(hào)的獲取是利用夫朗和費(fèi)衍射原理分析微米顆粒粒徑的基礎(chǔ)。介紹了由計(jì)算機(jī)和高速數(shù)據(jù)采集卡組成的高速采集裝置,討論了在基于虛擬儀器軟件平臺(tái)的程序設(shè)計(jì)中遇到的有關(guān)散射光信號(hào)的高速采集、存
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LabVIEW 微米 散射 信號(hào)采集
- 布里淵散射型分布式光纖溫度傳感器頻域分析法
布里淵散射光也是光在光纖中傳輸時(shí)由非彈性光子與熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的聲子發(fā)生的一種非彈性碰撞。散射光的頻移量與溫度的關(guān)系式為,其中T0為參考溫度,Vb(T0)為溫度為T(mén)0時(shí)的頻
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傳感器 分析法 溫度 光纖 散射 分布式 布里
- 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法,特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性,給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法[1].另一種方法是為解
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異性 分析 方程 積分 矢量 散射 三維
- 1 引言 材料中實(shí)際裂紋的形狀參數(shù)和空間分布信息在缺陷無(wú)損評(píng)估中變得越來(lái)起重要。它們表明了裂紋的折皺程度,擴(kuò)展路徑,在一定程度上還反映了裂紋的成因。根據(jù)裂紋的這些信息,可以在線評(píng)估材料的工作狀態(tài),
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散射 測(cè)量材料 參數(shù) 分形
- 散射測(cè)量方法日益應(yīng)用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測(cè)量,并逐漸在間隔層的量測(cè)中占據(jù)主導(dǎo)地位。數(shù)量級(jí)在10nm或更薄的間隔層測(cè)量尤其困難。除間隔層厚度外,由間隔層過(guò)刻蝕導(dǎo)致的基板凹陷深度也對(duì)器件有著明顯的影響。嵌入式
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SiGe 散射 方法 測(cè)量
- 長(zhǎng)久以來(lái),散射技術(shù)已充分展示其精準(zhǔn)測(cè)量簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的能力,例如對(duì)淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)(STI)和柵極模塊的量測(cè)。但是,IC制造商現(xiàn)在需要監(jiān)測(cè)和控制越來(lái)越復(fù)雜的結(jié)構(gòu)。Spacer是目前散射技術(shù)正在處理的復(fù)雜結(jié)構(gòu)之一。Spacer會(huì)
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Spacer 散射 測(cè)試
- 無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中,工程師們?cè)跍y(cè)試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰(zhàn)。在研發(fā)過(guò)程中,更快并以較少的重復(fù)...
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散射 線性 變頻 無(wú)線
散射介紹
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