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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 散射

          三維矢量散射積分方程中奇異性的分析及求解方法介紹

          • 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法,特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性,給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法[1].另一種方法是為解
          • 關(guān)鍵字: 分析  求解  方法  介紹  異性  方程  矢量  散射  積分  三維  

          無(wú)芯射頻標(biāo)簽散射場(chǎng)分析和極點(diǎn)提取研究

          • 摘要:目標(biāo)雷達(dá)散射截面(RCS),在復(fù)平面可以表示為復(fù)頻域的函數(shù)。根據(jù)奇點(diǎn)(SEM)展開(kāi)(留數(shù))方法,計(jì)算對(duì)目標(biāo)物體的散射奇點(diǎn)(留數(shù)),進(jìn)行射頻識(shí)別(RFID),是射頻識(shí)別的新思路。通過(guò)FEKO軟件,對(duì)蝶形無(wú)芯標(biāo)簽結(jié)構(gòu)進(jìn)行仿
          • 關(guān)鍵字: 提取  研究  極點(diǎn)  分析  標(biāo)簽  散射  射頻  

          基于LabVIEW的微米顆粒散射光信號(hào)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          • 摘要:微米顆粒散射光信號(hào)的獲取是利用夫朗和費(fèi)衍射原理分析微米顆粒粒徑的基礎(chǔ)。介紹了由計(jì)算機(jī)和高速數(shù)據(jù)采集卡組成的高速采集裝置,討論了在基于虛擬儀器軟件平臺(tái)的程序設(shè)計(jì)中遇到的有關(guān)散射光信號(hào)的高速采集、存
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  微米  散射  信號(hào)采集    

          布里淵散射型分布式光纖溫度傳感器頻域分析法

          • 布里淵散射型分布式光纖溫度傳感器頻域分析法
            布里淵散射光也是光在光纖中傳輸時(shí)由非彈性光子與熱運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的聲子發(fā)生的一種非彈性碰撞。散射光的頻移量與溫度的關(guān)系式為,其中T0為參考溫度,Vb(T0)為溫度為T(mén)0時(shí)的頻
          • 關(guān)鍵字: 傳感器  分析法  溫度  光纖  散射  分布式  布里  

          三維矢量散射積分方程中奇異性的分析

          • 本文研究了電場(chǎng)積分方程(EFIE)中被積函數(shù)奇異性的處理方法,特別是三維矢量散射分析中出現(xiàn)的高階奇異性,給出了兩種解決積分方程奇異性的數(shù)值方法.一種方法是計(jì)算O(1/R)階奇異積分的奇異轉(zhuǎn)移法[1].另一種方法是為解
          • 關(guān)鍵字: 異性  分析  方程  積分  矢量  散射  三維  

          一種利用超聲散射測(cè)量材料內(nèi)部微裂紋分形參數(shù)的新

          • 1 引言 材料中實(shí)際裂紋的形狀參數(shù)和空間分布信息在缺陷無(wú)損評(píng)估中變得越來(lái)起重要。它們表明了裂紋的折皺程度,擴(kuò)展路徑,在一定程度上還反映了裂紋的成因。根據(jù)裂紋的這些信息,可以在線評(píng)估材料的工作狀態(tài),
          • 關(guān)鍵字: 散射  測(cè)量材料  參數(shù)  分形    

          散射方法測(cè)量嵌入式SiGe間隔結(jié)構(gòu)

          • 散射測(cè)量方法日益應(yīng)用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)的測(cè)量,并逐漸在間隔層的量測(cè)中占據(jù)主導(dǎo)地位。數(shù)量級(jí)在10nm或更薄的間隔層測(cè)量尤其困難。除間隔層厚度外,由間隔層過(guò)刻蝕導(dǎo)致的基板凹陷深度也對(duì)器件有著明顯的影響。嵌入式
          • 關(guān)鍵字: SiGe  散射  方法  測(cè)量    

          應(yīng)用散射技術(shù)測(cè)試復(fù)雜Spacer結(jié)構(gòu)

          • 長(zhǎng)久以來(lái),散射技術(shù)已充分展示其精準(zhǔn)測(cè)量簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的能力,例如對(duì)淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)(STI)和柵極模塊的量測(cè)。但是,IC制造商現(xiàn)在需要監(jiān)測(cè)和控制越來(lái)越復(fù)雜的結(jié)構(gòu)。Spacer是目前散射技術(shù)正在處理的復(fù)雜結(jié)構(gòu)之一。Spacer會(huì)
          • 關(guān)鍵字: Spacer  散射  測(cè)試    

          針對(duì)手機(jī)射頻電路設(shè)計(jì)的差分散射參數(shù)測(cè)試方法(一)

          超越S參數(shù)測(cè)試-安捷倫科技最先進(jìn)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀PNA-X

          • 無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中,工程師們?cè)跍y(cè)試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰(zhàn)。在研發(fā)過(guò)程中,更快并以較少的重復(fù)...
          • 關(guān)鍵字: 散射  線性  變頻  無(wú)線  
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