- 評估數(shù)字通信鏈路質(zhì)量的有效方法之一是眼圖，眼圖給出了每一位(第N位，介于N-1位隨機數(shù)和N+1位隨機數(shù)之間)的窗口。通信系統(tǒng)工程師一般采用傳統(tǒng)的測試儀器來測量和分析信道的誤碼率。但大部分專業(yè)工程師并不這樣做。
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質(zhì)量 方法 鏈路 通信 評估 數(shù)字 測試
- 介紹了一種通過了解控制帶寬和輸出濾波器電容特性估算電源瞬態(tài)響應(yīng)的簡單方法。該方法充分利用了這樣一個事實，即所有電路的閉環(huán)輸出阻抗均為開環(huán)輸出阻抗除以 1 加環(huán)路增益，或簡單表述為：
圖 1 以圖形方
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方法 響應(yīng) 負載 電源 估計
- 圖 1 顯示了反向轉(zhuǎn)換器功率級和一次側(cè) MOSFET 電壓波形。該轉(zhuǎn)換器將能量存儲于一個變壓器主繞組電感中并在 MOSFET 關(guān)閉時將其釋放到次級繞組。由于變壓器的漏極電感會使漏電壓升至反射輸出電壓 (Vreset) 以上，因此
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緩沖 方法 進行 電壓 FET 關(guān)斷 轉(zhuǎn)換器
- 本文詳細介紹了如何在典型工業(yè)用24V電源環(huán)境下，借助WEBENCH Power Architect 中的新的電源模塊來設(shè)計高效的多輸出電源。該工業(yè)用24V電源在第一階段中將電源轉(zhuǎn)換為中間電壓軌，最后轉(zhuǎn)換為典型負載點電壓和負載點電流
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方法 簡介 設(shè)計 電源 高效 輸出 工業(yè)
- Protel封裝庫轉(zhuǎn)換到Allegro的方法及步驟長期使用 Protel作 PCB 設(shè)計，我們總會積累一個龐大的經(jīng)過實踐檢驗的 Protel 封裝庫，當(dāng)設(shè)計平臺轉(zhuǎn)換時，如何保留這個封裝庫總是令人頭痛。這里，我們將使用 Orcad Layout，和
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Allegro Protel 封裝庫 方法
- 要點 - 儀器與控制器通信以及彼此間通信的能力可追溯到上世紀60年代末，當(dāng)時HP公司發(fā)明了HP接口總線(HP-IB)，被制定為IEEE-488標準，并起了一個名字——通用接口總線(GPIB)?！ ? PXI標準和LXI標準正在
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自動化 方法 測試 通信 LXI 實現(xiàn) PXI
- 開關(guān)電流技術(shù)是一種新的模擬信號采樣、保持、處理技術(shù)。它具有電流模電路的特有優(yōu)點，如速度快，適合于低電壓工作等。與傳統(tǒng)的開關(guān)電容技術(shù)相比，開關(guān)電流技術(shù)不需要線性電容和高性能的運算放大器，整個電路由晶體
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誤差 方法 主要 電路 開關(guān) 電流 改善
- UPS電源的測試一般包括穩(wěn)態(tài)測試和動態(tài)測試兩類。穩(wěn)態(tài)測試是在空載、50%額定負載以及100%額定負載條件下，測試輸入、輸出端的各相電壓、線電壓、空載損耗、功率因數(shù)、效率、輸出電壓波形、失真度及輸出電壓的頻率等。
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測試 方法 動態(tài) 穩(wěn)態(tài) 電源 UPS
- USB用于測試與測量應(yīng)用的優(yōu)勢很多，但是在選擇USB數(shù)據(jù)采集模塊之前，仔細考慮目標應(yīng)用。如果瞬時電壓或地電位差存在，通過選擇帶隔離措施的USB數(shù)據(jù)采集模塊可保護PC并保持信號數(shù)據(jù)的完整性。本文詳細分析了使用USB數(shù)
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USB 數(shù)據(jù)采集模塊 方法
- LED是一種高效環(huán)保的新型半導(dǎo)體光源，有其它光源無法比擬的優(yōu)勢。在未來汽車照明應(yīng)用中前景光明。LED 可以用串聯(lián)、并聯(lián)等不同的方式組合成LED 陣列，以滿足汽車照明強度的要求。針對LED 的發(fā)光特性，重點討論了LED 驅(qū)
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LED 汽車 電子設(shè)計 方法
- Ｄallas公司的iButton產(chǎn)品是一系列１－wire總線新型器件。ＤＳ１９９１是一種加密存儲器型信息紐扣，封裝于直徑為１６mm的不銹鋼外殼中，體積小巧，便于攜帶、保存，防塵、防腐蝕，可以在惡劣的應(yīng)用環(huán)境中實現(xiàn)帶密碼
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讀寫 方法 分析 存儲器 密碼保護 簡介 及其 DS1991
- 摘要：NAND結(jié)構(gòu)Flash數(shù)據(jù)存儲器件是超大容量數(shù)據(jù)存儲的理想選擇，當(dāng)前被廣泛應(yīng)用于U盤、MP3和數(shù)碼相機的數(shù)據(jù)存儲。本文對該類型Flash的基本操作進行研究并對實際應(yīng)用系統(tǒng)給予驗證，揭示了NAND結(jié)構(gòu)Flash的操作規(guī)律。引
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方法 介紹 擴展 存儲器 大容量 Flash C8051F
- 在電感測試夾具中，預(yù)期的特征衰減時間TUR與測試裝置的開路上升時間T開路的比不是很大：這個低的比值意味著初始的階躍上升完成之前，測試波形已經(jīng)開始衰減。測量出的輸出波形不是簡單的指數(shù)形式，面是更復(fù)形。仔細觀
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衰減時間 方法
- 短脈沖光到達時，通常是呈現(xiàn)為某種對稱曲線，統(tǒng)計學(xué)上就像一個鐘形曲線。這個曲線的最前緣不能超過光速，但主體隆起部分，也就是脈沖的峰值，可以向前或向后傾斜，到達時會比通常的速度或快或慢。利用四波混頻，研究
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超光速 脈沖光 方法
- 1 前言 在生產(chǎn)中，有時會碰到某些客戶，要求部分孔塞孔，但又不能完全塞飽滿，塞孔的背面阻焊開窗，且有深度要求，通俗稱為“半塞孔”。據(jù)了解此類客戶是要在這些孔做測試，會把測試探針打入孔內(nèi)。如果
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pcb 半塞孔 方法
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