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提高系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試效率的方法
- 高度復(fù)雜的SoC設(shè)計(jì)正面臨著高可靠性、高質(zhì)量、低成本以及更短的產(chǎn)品上市周期等日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)??蓽y(cè)性設(shè)計(jì)通過(guò)提高電路的可測(cè)試性,從而保證芯片的高質(zhì)量生產(chǎn)和制造。借助于EDA技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的自動(dòng)化,
- 關(guān)鍵字: 系統(tǒng)級(jí) 方法 芯片測(cè)試 效率
開(kāi)關(guān)電源的熱設(shè)計(jì)方法解析
- 開(kāi)關(guān)電源已普遍運(yùn)用在當(dāng)前的各類(lèi)電子設(shè)備上,其單位功率密度也在不斷地提高.高功率密度的定義從1991年的25w/in3、1994年36w/in3、1999年52w/in3、2001年96w/in3,目前已高達(dá)數(shù)百瓦每立方英寸.由于開(kāi)關(guān)電源中使用了大量
- 關(guān)鍵字: 解析 方法 設(shè)計(jì) 開(kāi)關(guān)電源
一種新的基于FPGA的數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換方法
- 摘要:針對(duì)目前多數(shù)的FPGA都支持浮點(diǎn)IP核,卻較少關(guān)注數(shù)據(jù)源獲取的問(wèn)題,提出了一種數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換方法。使用VHDL語(yǔ)言,采用流水線(xiàn)處理方式將ASCII碼所表示的一定范圍內(nèi)的實(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換為單精度浮點(diǎn)數(shù)。經(jīng)過(guò)ModelSim功能仿真
- 關(guān)鍵字: FPGA 數(shù)據(jù)格式 方法 轉(zhuǎn)換
開(kāi)關(guān)電源IC中誤差放大器的自激振蕩及解決方法
- 摘要:開(kāi)關(guān)電源控制IC內(nèi)部的誤差放大器是一種運(yùn)算放大器,盡管大多數(shù)都進(jìn)行了相位補(bǔ)償,但由于外部元件等因素影響也會(huì)產(chǎn)生自激振蕩。以UC3875為例,分析了其內(nèi)部誤差放大器的自激振蕩,并用外部補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)對(duì)其進(jìn)行補(bǔ)償
- 關(guān)鍵字: 開(kāi)關(guān) 電源IC 方法 誤差放大器
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