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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 方法

          提高系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試效率的方法

          • 高度復(fù)雜的SoC設(shè)計(jì)正面臨著高可靠性、高質(zhì)量、低成本以及更短的產(chǎn)品上市周期等日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)??蓽y(cè)性設(shè)計(jì)通過(guò)提高電路的可測(cè)試性,從而保證芯片的高質(zhì)量生產(chǎn)和制造。借助于EDA技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的自動(dòng)化,
          • 關(guān)鍵字: 系統(tǒng)級(jí)  方法  芯片測(cè)試  效率    

          開(kāi)關(guān)電源的熱設(shè)計(jì)方法解析

          • 開(kāi)關(guān)電源已普遍運(yùn)用在當(dāng)前的各類(lèi)電子設(shè)備上,其單位功率密度也在不斷地提高.高功率密度的定義從1991年的25w/in3、1994年36w/in3、1999年52w/in3、2001年96w/in3,目前已高達(dá)數(shù)百瓦每立方英寸.由于開(kāi)關(guān)電源中使用了大量
          • 關(guān)鍵字: 解析  方法  設(shè)計(jì)  開(kāi)關(guān)電源  

          提高ERT電流源帶負(fù)載能力的方法

          • 1 引言  工業(yè)多相流檢測(cè)中的電阻層析成像技術(shù)(ElectricalResiSTance Tomography,簡(jiǎn)稱(chēng)ERT)是多相流檢測(cè)的一種高新技術(shù)。ERT通常采用電流激勵(lì)、電壓測(cè)量,在恒定電流激勵(lì)下,場(chǎng)內(nèi)介質(zhì)的電阻率分布的變化通過(guò)場(chǎng)域邊界上
          • 關(guān)鍵字: 能力  方法  負(fù)載  電流  ERT  提高  

          一種新的基于FPGA的數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換方法

          • 摘要:針對(duì)目前多數(shù)的FPGA都支持浮點(diǎn)IP核,卻較少關(guān)注數(shù)據(jù)源獲取的問(wèn)題,提出了一種數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換方法。使用VHDL語(yǔ)言,采用流水線(xiàn)處理方式將ASCII碼所表示的一定范圍內(nèi)的實(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換為單精度浮點(diǎn)數(shù)。經(jīng)過(guò)ModelSim功能仿真
          • 關(guān)鍵字: FPGA  數(shù)據(jù)格式  方法  轉(zhuǎn)換    

          嵌入式軟件開(kāi)發(fā)流程及ARM的中斷調(diào)試方法介紹

          • 嵌入式軟件開(kāi)發(fā)流程及ARM的中斷調(diào)試方法介紹,1 嵌入式軟件開(kāi)發(fā)流程  參照嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)流程。第一步:工程建立和配置。第二步:編輯源文件。第三步:工程編譯和鏈接。第四步:軟件的調(diào)試。第五步:執(zhí)行文件的固化?! ≡谡麄€(gè)流程中,用戶(hù)首先需要建立工程
          • 關(guān)鍵字: 調(diào)試  方法  介紹  中斷  ARM  軟件開(kāi)發(fā)  流程  嵌入式  

          恒流源周邊元器件的選擇方法

          • 電感選擇:  在設(shè)計(jì)LED恒流源時(shí)為保持嚴(yán)格的滯環(huán)電流控制,電感必須足夠大,保證在HO,ON 期間,能向負(fù)載供應(yīng)能量,避免負(fù)載電流顯著下降,導(dǎo)致平均電流跌到期望值以下。

              首先,我們來(lái)看一下電感的影響,假
          • 關(guān)鍵字: 方法  選擇  元器件  周邊  

          基于負(fù)序電壓的配電網(wǎng)故障定位方法

          • 摘要:結(jié)合我國(guó)配電網(wǎng)的實(shí)際情況,文章提出一種能夠確定配電網(wǎng)故障點(diǎn)確切位置的實(shí)用方法,此方法通過(guò)比較各節(jié)點(diǎn)負(fù)序電壓確定故障區(qū)段,并將故障區(qū)段始端負(fù)序電壓與本線(xiàn)路始端和末端短路時(shí)的故障負(fù)序電壓進(jìn)行運(yùn)算得出
          • 關(guān)鍵字: 定位  方法  故障  電網(wǎng)  電壓  基于  

          基于雙空間矢量調(diào)制方法分析矩陣變換器

          • 摘要:矩陣變換器的控制是一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。對(duì)矩陣變換器應(yīng)用雙空間矢量調(diào)制方法進(jìn)行了詳盡的分析,利用Matlab/Simulink軟件并借助于其中的S函數(shù)進(jìn)行了仿真。結(jié)果證明,這種調(diào)制策略使整個(gè)調(diào)制時(shí)間縮短,設(shè)計(jì)可靠,矩
          • 關(guān)鍵字: 分析  矩陣  變換器  方法  調(diào)制  空間  矢量  基于  

          開(kāi)關(guān)電源IC中誤差放大器的自激振蕩及解決方法

          • 摘要:開(kāi)關(guān)電源控制IC內(nèi)部的誤差放大器是一種運(yùn)算放大器,盡管大多數(shù)都進(jìn)行了相位補(bǔ)償,但由于外部元件等因素影響也會(huì)產(chǎn)生自激振蕩。以UC3875為例,分析了其內(nèi)部誤差放大器的自激振蕩,并用外部補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)對(duì)其進(jìn)行補(bǔ)償
          • 關(guān)鍵字: 開(kāi)關(guān)  電源IC  方法  誤差放大器    

          LED測(cè)試方法分析

          • 本文結(jié)合國(guó)內(nèi)外關(guān)于LED測(cè)試方法的最新標(biāo)準(zhǔn),基于LED各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的實(shí)際需求,從電特性、光特性、開(kāi)關(guān)特性、顏色特性、熱學(xué)特性、可靠性等方面進(jìn)行了介紹。 對(duì)于電特性測(cè)試,標(biāo)準(zhǔn)分別規(guī)定了LED正向電壓、反向電
          • 關(guān)鍵字: 分析  方法  測(cè)試  LED  

          短波通信盲區(qū)及其解決方法

          • 盡管當(dāng)前新型無(wú)線(xiàn)通信系統(tǒng)不斷涌現(xiàn),短波這一最古老和傳統(tǒng)的通信方式仍然受到全世界的普遍重視,在衛(wèi)星通信和移動(dòng)通信快速發(fā)展的今天,短波通信不僅沒(méi)有被淘汰,還在快速發(fā)展。其原因是:短波通信距離遠(yuǎn)、抗毀能力和
          • 關(guān)鍵字: 解決  方法  及其  盲區(qū)  通信  短波  

          PWM控制的原理與方法

          • PWM控制的基本原理很早就已經(jīng)提出,但是受電力電子器件發(fā)展水平的制約,在上世紀(jì)80年代以前一直未能實(shí)現(xiàn).直到進(jìn)入上世紀(jì)80年代,隨著全控型電力電子器件的出現(xiàn)和迅速發(fā)展,PWM控制技術(shù)才真正得到應(yīng)用.隨著電力電子技術(shù),微
          • 關(guān)鍵字: 方法  原理  控制  PWM  

          離子注入設(shè)備和方法

          • 離子注入設(shè)備和方法最簡(jiǎn)單的離子注入機(jī)(圖2)應(yīng)包括一個(gè)產(chǎn)生離子的離子源和放置待處理物件的靶室。當(dāng) ...
          • 關(guān)鍵字: 離子注入  設(shè)備  方法  

          MSP430單片機(jī)串口的程序升級(jí)方法

          • 摘要:介紹了一種MSP430單片機(jī)通過(guò)串口升級(jí)程序的方法,并在MSP430F5438上得以實(shí)現(xiàn)。通過(guò)實(shí)驗(yàn),證明此方法穩(wěn)定、可靠,避免了利用仿真器更新程序的繁瑣,提高了效率。
            關(guān)鍵詞:MSP430F5438;串口;程序更新

          • 關(guān)鍵字: 升級(jí)  方法  程序  串口  單片機(jī)  MSP430  

          一種FPGA能耗優(yōu)化的方法設(shè)計(jì)

          • 一種FPGA能耗優(yōu)化的方法設(shè)計(jì),能耗給設(shè)計(jì)帶來(lái)的限制可能比任何一個(gè)其他因素都多。隨著一個(gè)新概念的不斷發(fā)展,平衡新功能和能耗效率成為一個(gè)首要問(wèn)題。  控制,并降低電子設(shè)計(jì)的能耗將使整個(gè)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)流程受益。這樣可以將一個(gè)不合適的產(chǎn)品改進(jìn)
          • 關(guān)鍵字: 方法  設(shè)計(jì)  優(yōu)化  能耗  FPGA  一種  
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          方法介紹

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