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晶圓測(cè)試
晶圓測(cè)試 文章 進(jìn)入晶圓測(cè)試技術(shù)社區(qū)
Melexis馬來西亞晶圓測(cè)試基地盛大落成，實(shí)現(xiàn)戰(zhàn)略擴(kuò)張
- 全球微電子工程公司邁來芯宣布，其位于馬來西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測(cè)試基地已圓滿落成。此次擴(kuò)張不僅標(biāo)志著邁來芯對(duì)半導(dǎo)體增長(zhǎng)需求的積極響應(yīng)，也體現(xiàn)公司在亞太地區(qū)擴(kuò)大的影響力和市場(chǎng)覆蓋的戰(zhàn)略布局。邁來芯在馬來西亞的擴(kuò)張項(xiàng)目正式落成，這標(biāo)志著公司35年發(fā)展歷程中的又一重要里程碑。此次擴(kuò)張不僅是對(duì)全球半導(dǎo)體市場(chǎng)日益增長(zhǎng)需求的精準(zhǔn)把握，更是對(duì)未來十年內(nèi)預(yù)計(jì)半導(dǎo)體需求翻番趨勢(shì)的前瞻布局。邁來芯在古晉的晶圓測(cè)試基地配備90臺(tái)先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試設(shè)備，專注于集成電路（IC）的嚴(yán)格測(cè)試。作為邊緣傳感器和驅(qū)動(dòng)器技術(shù)的創(chuàng)新
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ERS在中國(guó)設(shè)立公司—上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司
- 半導(dǎo)體制造業(yè)提供溫度管理解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者德國(guó)ERS electronic近日宣布成立中國(guó)公司：上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司。公司坐落于上海市嘉定區(qū)，與ERS中國(guó)實(shí)驗(yàn)室共同為客戶與合作伙伴提供：銷售，訂單處理，技術(shù)支持和樣品展示等相關(guān)服務(wù)。自2018以來，ERS中國(guó)從一人辦公室成長(zhǎng)為了一支完善的團(tuán)隊(duì)。在中國(guó)的六年業(yè)務(wù)發(fā)展過程中，ERS的技術(shù)和產(chǎn)品廣受好評(píng)，贏得了越來越多客戶的信任與支持。隨著業(yè)務(wù)量的激增，ERS總部決定在中國(guó)設(shè)立公司。上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司，位于上海市嘉定區(qū)“公司的這一決定進(jìn)一步鞏
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獨(dú)立第三方芯片及晶圓測(cè)試服務(wù)商芯昱安啟動(dòng)運(yùn)營(yíng)
- 據(jù)蘇州滸墅關(guān)發(fā)布消息，5月28日，國(guó)內(nèi)獨(dú)立第三方芯片及晶圓測(cè)試服務(wù)商蘇州芯昱安電子科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“芯昱安”）在滸墅關(guān)正式啟動(dòng)運(yùn)營(yíng)。消息顯示，芯昱安是芯信安電子科技有限公司的全資控股子公司，公司基于CDTO模式，提供芯片全生命周期的測(cè)試服務(wù)，涵蓋從產(chǎn)品設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的全流程定制化產(chǎn)品測(cè)試。芯昱安專注高端芯片測(cè)試，尤其擅長(zhǎng)復(fù)雜SoC芯片和復(fù)雜數(shù)?；旌闲酒I(lǐng)域的測(cè)試服務(wù)。公司聚焦國(guó)產(chǎn)替代2.0，專注于GPU、CPU、高速接口芯片、5G及WiFi6無(wú)線射頻芯片等高端復(fù)雜集成電路的測(cè)試開發(fā)及量產(chǎn)。據(jù)了解，目前，
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降低成本提高效率 MEMS動(dòng)態(tài)晶圓測(cè)試系統(tǒng)
- STI3000動(dòng)態(tài)晶圓級(jí)測(cè)試系統(tǒng)采用STI的專利技術(shù)（DST），通過一個(gè)驅(qū)動(dòng)電壓在晶圓上驅(qū)動(dòng)MEMS移動(dòng)，從而測(cè)量由此產(chǎn)生的 ...
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IC設(shè)計(jì)庫(kù)存調(diào)節(jié)
- 晶圓測(cè)試廠京元電子和欣銓科技第3季營(yíng)收雖然同步走揚(yáng)，創(chuàng)下新高紀(jì)錄，但單季獲利表現(xiàn)不同調(diào)。京元電獲利季增將近15%，而欣銓因新機(jī)臺(tái)折舊費(fèi)用增加，使獲利反而比上季衰退。展望第4季，京元電和欣銓皆認(rèn)為在第3季基期墊高下，第4季營(yíng)運(yùn)將勢(shì)必回調(diào)，加上IC設(shè)計(jì)廠進(jìn)行庫(kù)存調(diào)節(jié)，影響晶圓代工和晶圓測(cè)試需求。
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華虹NEC兩項(xiàng)新技術(shù)榮獲2009年度中國(guó)半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)獎(jiǎng)
- 2010年中國(guó)半導(dǎo)體市場(chǎng)年會(huì)于2010年3月9日至10日在上海召開。大會(huì)公布了由中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)、中國(guó)電子材料行業(yè)協(xié)會(huì)、中國(guó)電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會(huì)、中國(guó)電子報(bào)等單位共同評(píng)選出的 “第四屆(2009年度)中國(guó)半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)”獲獎(jiǎng)結(jié)果，上海華虹NEC電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“華虹NEC”)的“0.13微米SONOS嵌入式存儲(chǔ)器工藝技術(shù)”和“芯片超級(jí)同測(cè)技術(shù)(SCT)”兩個(gè)項(xiàng)目分獲殊榮。 華虹NEC的0
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IC封測(cè) 投顧敲鑼加碼
- 今年IC封測(cè)產(chǎn)業(yè)出色，業(yè)者訂單、產(chǎn)能滿載，第二季不僅跳脫「五窮六絕」淡季困境，預(yù)期將有不少業(yè)者會(huì)在第二季里，出現(xiàn)挑戰(zhàn)歷史新猷，引來券商與投顧研究報(bào)告中，紛紛建議客戶加碼封測(cè)族群。日前群益證券就叫進(jìn)超豐(2441)，目標(biāo)價(jià)上看45元;統(tǒng)一投顧也建議加碼欣銓，目標(biāo)價(jià)給予29元。 群益證券指出，超豐2月受到工作天數(shù)減少影響，營(yíng)收較1月下滑17.1%,但農(nóng)歷年后，消費(fèi)性電子、低價(jià)游戲及玩具產(chǎn)品市場(chǎng)開始回溫，MCU出貨量增加，預(yù)估3月營(yíng)收有機(jī)會(huì)回到9億元以上水平，再挑戰(zhàn)歷史新高。第二季進(jìn)入消費(fèi)性電子旺季，
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IC封測(cè) 投顧敲鑼加碼
- 今年IC封測(cè)產(chǎn)業(yè)出色，業(yè)者訂單、產(chǎn)能滿載，第二季不僅跳脫「五窮六絕」淡季困境，預(yù)期將有不少業(yè)者會(huì)在第二季里，出現(xiàn)挑戰(zhàn)歷史新猷，引來券商與投顧研究報(bào)告中，紛紛建議客戶加碼封測(cè)族群。日前群益證券就叫進(jìn)超豐，目標(biāo)價(jià)上看45元;統(tǒng)一投顧也建議加碼欣銓(3264)，目標(biāo)價(jià)給予29元。 群益證券指出，超豐2月受到工作天數(shù)減少影響，營(yíng)收較1月下滑17.1%,但農(nóng)歷年后，消費(fèi)性電子、低價(jià)游戲及玩具產(chǎn)品市場(chǎng)開始回溫，MCU出貨量增加，預(yù)估3月營(yíng)收有機(jī)會(huì)回到9億元以上水平，再挑戰(zhàn)歷史新高。第二季進(jìn)入消費(fèi)性電子旺季，
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惠瑞捷推出零空間占用的低成本測(cè)試系統(tǒng)V101
- 半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和集成電路、微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長(zhǎng)的上市時(shí)間壓力。 V101測(cè)試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國(guó)加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會(huì)議中心舉行的SEMICON WEST展覽會(huì)上展出。 惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測(cè)試技術(shù)專業(yè)知識(shí)惠及這一細(xì)分市場(chǎng)。這一成本敏感型市場(chǎng)要求測(cè)試方案以最低的測(cè)試成本
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晶圓測(cè)試介紹
晶圓測(cè)試是對(duì)晶片上的每個(gè)晶粒進(jìn)行針測(cè)，在檢測(cè)頭裝上以金線制成細(xì)如毛發(fā)之探針（probe），與晶粒上的接點(diǎn)（pad）接觸，測(cè)試其電氣特性，不合格的晶粒會(huì)被標(biāo)上記號(hào)，而后當(dāng)晶片依晶粒為單位切割成獨(dú)立的晶粒時(shí)，標(biāo)有記號(hào)的不合格晶粒會(huì)被洮汰，不再進(jìn)行下一個(gè)制程，以免徒增制造成本。
在晶圓制造完成之后，晶圓測(cè)試是一步非常重要的測(cè)試。這步測(cè)試是晶圓生產(chǎn)過程的成績(jī)單。在測(cè)試過程中，每一個(gè)芯片的電性能力和電路機(jī) [ 查看詳細(xì) ]
晶圓測(cè)試專欄文章
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