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晶圓級rf測試_電子產(chǎn)品世界 
      

      3. 

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          IC芯片的晶圓級射頻（RF）測試
          
                                                            
            
                    	
          • 對于超薄介質(zhì)，由于存在大的漏電和非線性，通過標(biāo)準(zhǔn)I-V和C-V測試不能直接提取氧化層電容(Cox)。然而，使用高頻電路模型則能夠精確提取這些參數(shù)。隨著業(yè)
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        IC芯片  晶圓級RF測試                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                                

                
          
	                
          
		                	
          
	
          
	共1條
	1/1															1								
	
          
		                
          
	               	
          
                
          
        	
          
            
          
        
          
	
          
	
          
  		
          
    		
          
      			
          
          			
          晶圓級rf測試介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條晶圓級rf測試!
           
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對晶圓級rf測試的理解，并與今后在此搜索晶圓級rf測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		  		  		        		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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