晶片級測試 文章 進(jìn)入晶片級測試技術(shù)社區(qū)
基于Multitest Mercury探針的晶片級測試座受好評 測試良品率提高6%
- Multitest 宣布全球最大的無晶圓半導(dǎo)體制造商之一對基于Mercury的晶片級測試座進(jìn)行了評估,結(jié)果發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品優(yōu)于以往傳統(tǒng)的POGO型彈簧針解決方案。Mercury測試座有八個試驗(yàn)位,每個試驗(yàn)位將近200個彈簧探針??蛻魹闈M足不斷增加的產(chǎn)量,已經(jīng)購買了三十多個測試座。 晶片級測試座已被中國臺灣和新加坡的多個測試代工廠采用??蛻舴从矼ercury測試座使測試良品率比以往的方案提高了4-6%,顯著節(jié)約了測試成本。此外,分包商對Mercury測試座的經(jīng)久耐用、維護(hù)要求低以及低廉的替換探針價格感到
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晶片級測試介紹
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