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相控陣天線有源駐波測試
- 天線在實(shí)際工作時(shí),除了輻射信號,由于自身的原因會在其端口存在駐波,而相控陣天線的天線單元間還存在互耦效應(yīng),使得天線的駐波增大,會對發(fā)射機(jī)功放組件造成一定損壞。因此在設(shè)計(jì)相控陣天線時(shí),必須考慮此駐波及其影響。針對相控陣天線有源駐波測試的需求,提出利用多通道相參信號源模擬相控陣實(shí)際掃描狀態(tài),從而進(jìn)行相控陣輻射狀態(tài)下的有源駐波測試。1 引言相控陣天線處于工作狀態(tài)(發(fā)射或者接收)時(shí),天線單元之間存在一定的電磁能量耦合,即互耦效應(yīng)?;ヱ钚?yīng)的存在改變了天線單元的阻抗特性,影響了陣列天線的波束形狀和增益。
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