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          條狀過(guò)孔成大勢(shì)所趨

          • 對(duì)于28納米及以下節(jié)點(diǎn),各種新的設(shè)計(jì)要求使工程師不得不調(diào)整傳統(tǒng)的數(shù)字電路板圖設(shè)計(jì)和驗(yàn)證流程。尤其值得一提的是,過(guò)孔的使用受到了很大的影響。新的過(guò)孔類型已推出,雙重成像(double patterning)、FinFETS 和其它新的設(shè)計(jì)技巧的加入不僅使過(guò)孔的使用顯著增多
          • 關(guān)鍵字: 條狀過(guò)孔  雙重成像  FinFETS  矩形過(guò)孔  布局布線  

          傳統(tǒng)過(guò)孔數(shù)顯著增加 條狀過(guò)孔成大勢(shì)所趨

          • 摘要:對(duì)于28納米及以下節(jié)點(diǎn),選擇和放置多種過(guò)孔類型的復(fù)雜要求對(duì)LEF/技術(shù)文件的繞線構(gòu)成了挑戰(zhàn),導(dǎo)致設(shè)計(jì)規(guī)則檢 ...
          • 關(guān)鍵字: 過(guò)孔數(shù)  條狀過(guò)孔  
          共2條 1/1 1

          條狀過(guò)孔介紹

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