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PCI Express發(fā)射器一致性/調(diào)試解決方案
- _____PCI-SIG 6.0規(guī)范引入了PAM4信號(hào)，旨在在保持NRZ信號(hào)向后兼容的同時(shí)實(shí)現(xiàn)64GT/s。多級(jí)（PAM4）方法為采用者和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)帶來了新的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。Tektronix的PCI Express 6.0軟件通過自動(dòng)化測試來減少這種新復(fù)雜性，確保測量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。Tektronix的PCE6 (Gen6)選項(xiàng)、PCE5 (Gen5)選項(xiàng)、PCE4 (Gen4)選項(xiàng)和PCE3 (Gen 1/2/3)選項(xiàng)應(yīng)用程序?yàn)镻CI Express發(fā)射機(jī)和參考時(shí)鐘符合性測試以及根據(jù)PCI-SIG?
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用混合信號(hào)示波器識(shí)別建立和保持時(shí)間違規(guī)
- _____信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系對(duì)數(shù)字設(shè)計(jì)的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。對(duì)于同步設(shè)計(jì)，時(shí)鐘信號(hào)相對(duì)于數(shù)據(jù)信號(hào)的時(shí)間尤為重要。使用混合信號(hào)示波器，可以輕松確定多個(gè)邏輯輸入和時(shí)鐘信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系。建立和保持時(shí)間觸發(fā)器自動(dòng)確定時(shí)鐘與數(shù)據(jù)時(shí)間關(guān)系。建立時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之前，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。保持時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之后，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。同步器件（如觸發(fā)器）的元件數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定了設(shè)置和保持時(shí)間。必須滿足設(shè)置和保持時(shí)間的要求，才能確保元件能夠正確可靠地工作?；旌闲盘?hào)示波器
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MOSFET器件的高壓CV測試詳解
- _____MOSFET、IGBT和BJT等半導(dǎo)體器件的開關(guān)速度受到元件本身的電容的影響。為了滿足電路的效率，設(shè)計(jì)者需要知道這些參數(shù)。例如，設(shè)計(jì)一個(gè)高效的開關(guān)電源將要求設(shè)計(jì)者知道設(shè)備的電容，因?yàn)檫@將影響開關(guān)速度，從而影響效率。這些信息通常在MOSFET的指標(biāo)說明書中提供。圖1 功率MOSFET的組件級(jí)電容三端功率半導(dǎo)體器件的電容可以在兩種不同的量級(jí)上看待：組件和電路。在組件上查看電容涉及到表征每個(gè)設(shè)備終端之間的電容。在電路上觀察電容涉及到描述組件級(jí)電容的組合。例如，圖1說明了一個(gè)功率MOSFET的組件級(jí)電容
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延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測試一定要做的事兒！
- 進(jìn)行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性，可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期?；陔p脈沖測試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情，包括：通過對(duì)開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書、計(jì)算開關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開關(guān)特性的對(duì)比等。測量延時(shí)的影響被測信號(hào)在測量過程中會(huì)經(jīng)歷兩次延時(shí)，不同信號(hào)所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì)對(duì)測量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí)，索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級(jí)別，對(duì)于
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SiC MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓測試結(jié)果離譜的六大原因
- _____開關(guān)特性是功率半導(dǎo)體開關(guān)器件最重要的特性之一，由器件在開關(guān)過程中的驅(qū)動(dòng)電壓、端電壓、端電流表示。一般在進(jìn)行器件評(píng)估時(shí)可以采用雙脈沖測試，而在電路設(shè)計(jì)時(shí)直接測量在運(yùn)行中的變換器上的器件波形，為了得到正確的結(jié)論，獲得精準(zhǔn)的開關(guān)過程波形至關(guān)重要。SiC MOSFET相較于 Si MOS 和 IGBT 能夠顯著提高變換器的效率和功率密度，同時(shí)還能夠降低系統(tǒng)成本，受到廣大電源工程師的青睞，越來越多的功率變換器采用基于 SiC MOSFET 的方案。SiC MOSFET 與 Si 開關(guān)器件的一個(gè)重要區(qū)別是它
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【AFG專題系列72變】之四：磁共振成像我搞定
- _____磁共振成像是一種使用磁場及射頻脈沖進(jìn)行的特殊檢查，安全、準(zhǔn)確、無創(chuàng)傷、對(duì)人體無害，因此，在醫(yī)療行業(yè)上被廣泛的應(yīng)用。要完成磁共振掃描并且得到圖像需要一個(gè)非常復(fù)雜的磁共振成像系統(tǒng)，而該系統(tǒng)主要由以下幾個(gè)部分組成，包括：磁體系統(tǒng)、射頻系統(tǒng)、梯度系統(tǒng)、接收線圈及其他計(jì)算機(jī)輔助系統(tǒng)。射頻系統(tǒng)主要由射頻線圈、射頻發(fā)生器、射頻放大器組成，主要的作用是發(fā)射能夠激發(fā)成像區(qū)域的射頻脈沖。梯度切換率Slew Rate是描述梯度場變化快慢的一個(gè)指標(biāo)，表示單位時(shí)間內(nèi)梯度場強(qiáng)的變化量，它的單位是mT/m/s，也反映了梯度場
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e絡(luò)盟發(fā)售Tektronix AFG31000任意函數(shù)發(fā)生器
- 全球電子元器件與開發(fā)服務(wù)分銷商e絡(luò)盟現(xiàn)在備有 Tektronix AFG31000 任意函數(shù)發(fā)生器。這款行業(yè)一流的波形發(fā)生平臺(tái)旨在滿足整個(gè)產(chǎn)品運(yùn)行過程中，對(duì)性能和多功能性的最嚴(yán)苛要求?！ ∪?AFG31000 系列融合了四個(gè)行業(yè)第一，為研究人員和工程師帶來前所未有的用戶體驗(yàn)： 9 英寸電容式觸摸顯示屏和簡化的菜單方便用戶更快地查找和更改設(shè)置，同時(shí)便于瀏覽?！ ∧軌蚴褂肐nstaView?實(shí)時(shí)監(jiān)控被測設(shè)備上生成的波形。當(dāng)信號(hào)從 AFG31000 輸出到被測電路中的測試點(diǎn)時(shí)，通過實(shí)時(shí)驗(yàn)證生成的波形圖，
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輕松通過WLAN發(fā)射機(jī)預(yù)一致性測試須知
- 輕松通過WLAN發(fā)射機(jī)預(yù)一致性測試須知-盡管使用無線模塊消除了許多技術(shù)問題，但還需要做許多決策。最關(guān)鍵、也是最棘手的任務(wù)是確保最終產(chǎn)品滿足復(fù)雜的FCC和國際法規(guī)要求。一致性測試是窮盡式測試，耗費(fèi)時(shí)間長，在產(chǎn)品開發(fā)的這個(gè)階段測試失敗可能會(huì)導(dǎo)致昂貴的重新設(shè)計(jì)及耽誤產(chǎn)品推出。
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打造貼近萬物互聯(lián)時(shí)代的測試儀器
- 沉舟側(cè)畔千帆過，對(duì)于飛速發(fā)展的電子信息產(chǎn)業(yè)來說，變化才是永恒不變的發(fā)展主題，一家企業(yè)越是領(lǐng)先于競爭者，就越要不斷抓住市場的變化趨勢(shì)，從而保持領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)不被對(duì)手超越。對(duì)于一直定義著示波器標(biāo)準(zhǔn)的泰克科技來說，面對(duì)測試市場客戶需求的變化，需要全面調(diào)整自己的產(chǎn)品研發(fā)策略。近日，筆者專訪了泰克科技總裁 Pat Byrne，請(qǐng)他暢談泰克科技如何進(jìn)行企業(yè)的戰(zhàn)略全面轉(zhuǎn)型。從被丹納赫集團(tuán)收購之后，泰克科技經(jīng)歷了很多變化，可以說Pat Byrne上任之后，憑借他對(duì)測試儀器更深厚的職業(yè)經(jīng)歷，帶領(lǐng)泰克科技開始全面的企業(yè)戰(zhàn)略調(diào)整，即
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