泰瑞達(dá) 文章 進(jìn)入泰瑞達(dá)技術(shù)社區(qū)
筑波科技與美商泰瑞達(dá)攜手共創(chuàng)半導(dǎo)體測試新局面
- 自2022年以來，筑波科技 (ACE Solution) 與美商泰瑞達(dá) (Teradyne) 展開策略合作，共同推動半導(dǎo)體測試的 ETS 平臺。我們特別專訪 Teradyne 的營銷總監(jiān)Aik-Moh Ng，他自2006年以來一直領(lǐng)導(dǎo) Teradyne ETS 亞太地區(qū)團隊。隨著市場發(fā)展，電源管理中集成電路的整合明顯提升。電動車的崛起同時帶來電池管理系統(tǒng)的挑戰(zhàn)，需要高效的系統(tǒng)來最大化電池使用。此外，AI 技術(shù)將促進(jìn)許多電源管理 IC 的發(fā)展，推動高端先進(jìn) GPU、CPU 和 TPU 的需求。這些設(shè)備在啟動
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泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測試技術(shù)聯(lián)合實驗室”簽約暨揭牌儀式圓滿結(jié)束
- 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)近日宣布，與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測試技術(shù)聯(lián)合實驗室”的簽約暨揭牌儀式圓滿結(jié)束。泰瑞達(dá)全球半導(dǎo)體測試解決方案工程部副總裁Randy Kramer、全球監(jiān)管策略總監(jiān)Sam Rosen、中國工程方案開發(fā)部研發(fā)總監(jiān)侯毅、亞太區(qū)市場產(chǎn)品經(jīng)理Hwai-Sern Yap、中國市場溝通經(jīng)理Lisa Liu等代表泰瑞達(dá)公司出席在合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院舉辦的現(xiàn)場活動。一直以來，泰瑞達(dá)都視中國為重要合作伙伴，秉持著“育芯、育人”的長期支持與承諾， Randy Kramer、Sam
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泰瑞達(dá)交付第8,000臺 J750半導(dǎo)體測試系統(tǒng)
- 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)近日宣布，與獨立第三方集成電路測試服務(wù)企業(yè)偉測科技共同達(dá)成一項里程碑式結(jié)果，暨順利交付第 8,000 臺 J750 半導(dǎo)體測試平臺。泰瑞達(dá) J750 測試機包括晶圓分類和封裝測試解決方案，適用于微控制器單元、無線設(shè)備、圖像傳感器等，已在全球各大半導(dǎo)體芯片制造商工廠中廣泛部署。J750 測試機在質(zhì)量、上市時間和成本效益方面占據(jù)行業(yè)領(lǐng)先優(yōu)勢，有助于提高產(chǎn)能、增加工位數(shù)，減少單工位測試時長，并優(yōu)化并行測試效率。偉測科技致力于為中國及海外的先進(jìn)無晶圓廠集成電路設(shè)計公司提供測試服務(wù)
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筑波網(wǎng)絡(luò)科技x美商泰瑞達(dá)共創(chuàng)卓越-4/17第三代半導(dǎo)體材料與測試技術(shù)研討會
- 圖 左起清大材料科學(xué)工程學(xué)系?嚴(yán)大任教授兼全球長、SEMI Taiwan/ 陽明交大光電工程研究所 郭浩中教授、陽明交大機械工程系 成維華教授兼副院長、筑波網(wǎng)絡(luò)科技?許深福董事長、泰瑞達(dá)?高士卿臺灣區(qū)總經(jīng)理、陽明交大電子研究所?洪瑞華教授、筑波網(wǎng)絡(luò)科技?許永周項目經(jīng)理、筑波網(wǎng)絡(luò)科技?官暉舜博士/研發(fā)經(jīng)理筑波網(wǎng)絡(luò)科技與美商泰瑞達(dá)Teradyne攜手合作，于2024年4月17日成功舉辦首場「第三代半導(dǎo)體材料與測試技術(shù)研討會」。此次研討會邀請產(chǎn)官學(xué)講師
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NI與領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)合作實現(xiàn)實時分析
- NI（已正式成為艾默生一員，現(xiàn)作為艾默生旗下新的測試與測量業(yè)務(wù)集團運營）近日宣布了一項新計劃，利用NI Global Operations（GO，前身為Optimal+）平臺在邊緣側(cè)提供實時的半導(dǎo)體分析解決方案。這種更新水平的基礎(chǔ)設(shè)施和控制能力為平臺用戶、NI自身、乃至第三方人員開發(fā)更先進(jìn)和更定制化的應(yīng)用程序打開了大門。此次發(fā)布的亮點是NI GO生態(tài)系統(tǒng)中的新支持層以及開始與領(lǐng)先ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)（Teradyne）的合作。OptimalPlus GO對半導(dǎo)體測試操作的質(zhì)量、良率、吞吐量和功能需求的不斷提
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筑波科技與美商泰瑞達(dá)攜手ETS 開創(chuàng)化合物半導(dǎo)體IC的動態(tài)測試新紀(jì)元
- 圖 筑波科技華南區(qū)銷售總監(jiān)黃博彥Fred Huang、ETS動態(tài)測試方案筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(dá)(Teradyne)攜手合作，推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案，為半導(dǎo)體行業(yè)市場帶來突破性的競爭優(yōu)勢。半導(dǎo)體功能測試（FT）向來需要克服各種挑戰(zhàn)，包括復(fù)雜的案例設(shè)計、執(zhí)行和系統(tǒng)維護、數(shù)據(jù)分析管理，以及對測試環(huán)境穩(wěn)定性的高度要求。如何以單一機臺實現(xiàn)CP與FT測試的一機多用，實現(xiàn)DUT批次特性驗證，產(chǎn)線大批量生產(chǎn)並兼顧「動態(tài)和靜態(tài)」測試，成為了業(yè)界關(guān)
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泰瑞達(dá)引入實時分析解決方案至測試流程
- 2023年8月2日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）今日宣布，推出泰瑞達(dá)Archimedes解決方案---這一開放式架構(gòu)將實時分析引入半導(dǎo)體測試。該解決方案可優(yōu)化測試流程、提升良率并降低成本，同時減少當(dāng)前云端方案存在的安全隱患。 泰瑞達(dá)半導(dǎo)體測試事業(yè)部營銷副總裁兼總經(jīng)理Regan Mills表示：“隨著市場對于采用先進(jìn)工藝的高性能器件的需求不斷擴大，半導(dǎo)體制造的復(fù)雜度也隨之提升，亟需全面的測試和分析解決方案。泰瑞達(dá)Archimedes所提供開放式的架
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泰瑞達(dá)亮相SEMICON China：解讀異構(gòu)集成和Chiplet時代下，測試行業(yè)的機遇與挑戰(zhàn)
- 2023年7月3日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，受邀出席了SEMICON China 2023同期舉辦的“先進(jìn)封裝論壇 - 異構(gòu)集成”活動。在活動中，泰瑞達(dá)Complex SOC事業(yè)部亞太區(qū)總經(jīng)理張震宇發(fā)表題為《異構(gòu)集成和Chiplet時代下，芯片測試行業(yè)的機遇與挑戰(zhàn)》的精彩演講，生動介紹泰瑞達(dá)對于先進(jìn)封裝，在質(zhì)量和成本之間找到平衡和最優(yōu)方案的經(jīng)驗和見解。 SEMICON China是中國最重要的半導(dǎo)體行業(yè)盛事之一，見證中國半導(dǎo)體制造業(yè)的茁
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泰瑞達(dá)助力中國集成電路測試人才的培養(yǎng)
- 2023年5月8日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，日前高校訪問泰瑞達(dá)合肥分公司活動圓滿結(jié)束。中國研究生創(chuàng)“芯”大賽秘書處涂叢慧秘書長、安徽大學(xué)集成電路學(xué)院吳秀龍院長、合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院夏豪杰院長、微電子學(xué)院黃正峰副院長一行人對泰瑞達(dá)合肥分公司進(jìn)行了參觀訪問，泰瑞達(dá)中國工程開發(fā)總監(jiān)侯毅先生和中國市場溝通經(jīng)理劉怡穎小姐熱情接待了各位來賓，并圍繞著“校企合作、人才培養(yǎng)”等話題開展了圓桌會議。 在本次訪問的過程中，侯毅先生向來訪嘉賓回
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泰瑞達(dá)：瞄準(zhǔn)差異化蓬勃發(fā)展市場 助力客戶長期價值
- 對半導(dǎo)體設(shè)備廠商而言，2022年是個比較糾結(jié)的年份，一方面因為產(chǎn)能短缺引發(fā)的半導(dǎo)體晶圓廠大規(guī)模擴產(chǎn)帶來龐大的市場增長機遇，另一方面，受半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)預(yù)期低迷的影響，半導(dǎo)體晶圓廠又將面臨大范圍的產(chǎn)能縮減計劃。為此，很多半導(dǎo)體設(shè)備廠將業(yè)務(wù)重點開始聚焦在一些芯片設(shè)計客戶領(lǐng)域，特別是聚焦在業(yè)務(wù)增長比較迅猛，芯片設(shè)計復(fù)雜度較高的領(lǐng)域，比如汽車電子和工業(yè)市場。 芯片測試是這些年設(shè)備廠商中增長較為迅速的領(lǐng)域，隨著芯片性能的日益提升，芯片集成度、復(fù)雜度越來越高，為了保證出廠的芯片品質(zhì)，芯片測試環(huán)節(jié)越來越受到各大廠商的重視，以
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泰瑞達(dá):深耕中國市場,助力客戶創(chuàng)造長期價值
- 在變化中謀發(fā)展：泰瑞達(dá)芯年、芯事、芯征程2022 年的日歷已經(jīng)揭過，回顧這一年，對于整個半導(dǎo)體供應(yīng)鏈來說可謂是冰火兩重天。一方面，諸如“砍單”、“去庫存“等討論聲日益升溫，讓半導(dǎo)體行業(yè)行至凜冬，另一方面，汽車、新能源等相關(guān)芯片依然緊缺，行業(yè)發(fā)展勢頭依舊火熱。面對如此極端的市場變化，泰瑞達(dá)能繼續(xù)發(fā)揮測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者優(yōu)勢，幫助芯片廠商在創(chuàng)新的同時嚴(yán)格把控質(zhì)量，創(chuàng)造長期價值。展望2023 年及未來，雖然在短時間內(nèi)芯片短缺或?qū)⒀永m(xù)，但并不會延緩行業(yè)創(chuàng)新的腳步。并且隨著各大企業(yè)積極調(diào)整產(chǎn)能，預(yù)計到2023 年中期芯片
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泰瑞達(dá)亮相2022 ICCAD：解密“芯”浪潮之下，半導(dǎo)體測試的挑戰(zhàn)與良策
- 2022年12月28日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，受邀出席了中國集成電路設(shè)計業(yè)年會（簡稱ICCAD）。ICCAD是中國半導(dǎo)體界最具影響力的行業(yè)年度盛會之一，旨在為集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的各個環(huán)節(jié)營建一個交流與協(xié)作的平臺，促進(jìn)整個產(chǎn)業(yè)共榮、共進(jìn)、共同發(fā)展。 在ICCAD 12月27日舉辦的先進(jìn)封裝與測試論壇上，泰瑞達(dá)中國產(chǎn)品專家于波先生發(fā)表了題為《緊跟“芯”浪潮之挑戰(zhàn)，引領(lǐng)測試行業(yè)先鋒》的演講，以行業(yè)領(lǐng)頭羊視角向與會嘉賓解讀當(dāng)下半導(dǎo)體行
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筑波網(wǎng)絡(luò)科技/泰瑞達(dá)Teradyne合作
- 筑波網(wǎng)絡(luò)科技與美商泰瑞達(dá)Teradyne合作，于12月15日舉辦深圳辦公室卓越半導(dǎo)體工程(EC)中心開幕茶會，將以Eagle Test System (ETS)設(shè)備提供WBG材料分析與功率IC/module測試等相關(guān)方案，定期提供客戶教育訓(xùn)練課程、小量試產(chǎn)與軟硬件技術(shù)現(xiàn)場服務(wù)。迎接電動車、快充需求帶動第三代半導(dǎo)體碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)國際市場快速發(fā)展，儲能設(shè)備及高效能控制機臺需要更多強韌的運算芯片與電源管理IC功率組件。擁有高精準(zhǔn)、高穩(wěn)定度，高速測試、低單位IC測試成本與強大工程經(jīng)驗支持攸關(guān)P
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泰瑞達(dá)攜精彩演講亮相SEMICON China，解讀系統(tǒng)級測試在電子行業(yè)的重要性
- 2022年11月2日，中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）宣布，受邀出席SEMICON China 2022于11月2日舉辦的半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝論壇活動，在向與會嘉賓解讀了系統(tǒng)級測試（簡稱SLT）在電子行業(yè)創(chuàng)新中的卓越表現(xiàn)的同時，還分享了泰瑞達(dá)在推進(jìn)系統(tǒng)級測試采用方面所扮演的重要角色。??本屆半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝論壇邀請到了全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的代表領(lǐng)袖和專家，旨在從關(guān)鍵工藝、設(shè)備材料、封裝測試等多角度探討半導(dǎo)體制造與先進(jìn)封裝的整體系統(tǒng)解決方案。
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降低時間成本提升良率 泰瑞達(dá)為半導(dǎo)體測試提速
- 芯片測試貫穿于半導(dǎo)體研發(fā)到量產(chǎn)的全部過程，是半導(dǎo)體制造無法繞開的一環(huán)。雖然近些年半導(dǎo)體工藝的演進(jìn)速度放緩，但因為制造工藝的精細(xì)和芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的復(fù)雜，使得測試和驗證的復(fù)雜程度大幅提升。 新工藝，新挑戰(zhàn) 隨著制作工藝越來越先進(jìn)，芯片上的晶體管集成度也越來越高。為數(shù)量暴增的晶體管進(jìn)行測試勢必會造成芯片測試時間的增加。另外，模擬和射頻芯片測試過程中模擬測試占比重較大，且在測試之前需在內(nèi)部進(jìn)行trim調(diào)整，這樣會帶來額外的測試時間，測試時間的增加，就意味著更高的測試成本。Wafer yield也是先進(jìn)工藝帶來的一個
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