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          數(shù)字測(cè)試儀下的參數(shù)測(cè)試單元的設(shè)計(jì)

          • 隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展,數(shù)字集成電路得到了廣泛的應(yīng)用,數(shù)字芯片已經(jīng)滲透到各個(gè)生產(chǎn)、生活的領(lǐng)域。與之相對(duì)應(yīng)的,各個(gè)領(lǐng)域?qū)?shù)字芯片的性能、穩(wěn)定性、可靠性也有了更高的要求。數(shù)字測(cè)試儀作為測(cè)試芯片性能最主要的技術(shù)正是在這樣的環(huán)境下迅速發(fā)展起來(lái)。

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          測(cè)試單元介紹

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