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嵌入式存儲(chǔ)器的測試及可測性設(shè)計(jì)
- 本文對(duì)嵌入式存儲(chǔ)器的測試及可測性設(shè)計(jì)進(jìn)行研究總結(jié),為我國存儲(chǔ)器測試的研究以及集成電路測試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展奠定堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。
- 關(guān)鍵字: 嵌入式存儲(chǔ)器 測試向量 可測性
STM-1并行幀同步系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與FPGA實(shí)現(xiàn)
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測試向量介紹
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