測試方法 文章 進(jìn)入測試方法技術(shù)社區(qū)
幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法
- 在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對
- 關(guān)鍵字： RAM 單片機(jī)系統(tǒng) 測試方法
光時(shí)域反射儀（OTDR）工作原理及測試方法
- 一、OTDR的工作原理：
光纖光纜測試是光纜施工、維護(hù)、搶修重要技術(shù)手段，采用OTDR(光時(shí)域反射儀）進(jìn)行光纖連接的現(xiàn)場監(jiān)視和連接損耗測量評價(jià)，是目前最有效的方式。這種方法直觀、可信并能打印出光纖后向散射信號(hào)曲 - 關(guān)鍵字： OTDR 光時(shí)域反射儀 工作原理 測試方法
基于環(huán)境模擬的入侵檢測系統(tǒng)測試方法
- 0 引 言
在保障網(wǎng)絡(luò)的安全性時(shí)，入侵檢測系統(tǒng)已經(jīng)成為必選的技術(shù)和手段，因?yàn)樗绕鹌渌陌踩夹g(shù)存在著很多優(yōu)勢。用戶在選用IDS時(shí)，總是從各自不同的需要來考慮。要衡量IDS的優(yōu)劣，就需要明確IDS應(yīng)該具備的 - 關(guān)鍵字： 環(huán)境 測試方法 模擬 入侵檢測系統(tǒng)
A/D轉(zhuǎn)換芯片的測試環(huán)境構(gòu)成及測試方法
- 所謂的混合信號(hào)測試,是指對A/D、D/A、鎖相環(huán)等兼有數(shù)字和模擬兩種信號(hào)的混合電路芯片的測試?；旌闲盘?hào)測試的測試時(shí)間長、費(fèi)用高、測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,在實(shí)現(xiàn)上具有一定的難度。而數(shù)字電路測試系統(tǒng)有著出色的測試能力,如
- 關(guān)鍵字： 轉(zhuǎn)換芯片 測試 環(huán)境 測試方法
生產(chǎn)制造中的低功耗測試方法
- 受無線和高功效器件的普及以及提供“綠色”電子系統(tǒng)的需求驅(qū)動(dòng)，設(shè)計(jì)師越來越多地采用低功率設(shè)計(jì)來應(yīng)對越來越艱巨的功能性功耗挑戰(zhàn)。直到最近，管理制造測試過程中的功率問題已經(jīng)成為第二大備受業(yè)界關(guān)注的要求。但隨
- 關(guān)鍵字： 生產(chǎn)制造 低功耗 測試方法
更好、更快的開環(huán)增益測試方法
- 在使用反饋的系統(tǒng)中，反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路，比如，一個(gè)可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器，用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見圖1)。我們往往需要對這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測量，以便對它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通?？偸呛芾щy的。例如，積分器的低頻增益可以非常高，一般會(huì)超出常用測試儀的測量范圍。所以，這些測試的目的是，使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路，以最小的工作量，快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。 圖1? 一個(gè)基本的反饋系統(tǒng) 舉例
- 關(guān)鍵字： 更好，更快，開環(huán)增益，測試方法
CDMA移動(dòng)臺(tái)的主要射頻指標(biāo)和測試方法
- e.將參考射頻信號(hào)電平分別設(shè)為-65dBm（測試2），-104dBm（測試3），重復(fù)步驟c到d，分別測出相應(yīng)的移動(dòng)臺(tái)天線連接處的輸出...
- 關(guān)鍵字： 移動(dòng)臺(tái) 綜測儀 CDMA 測試方法 平均變化率 射頻信號(hào) 測試規(guī)范 測試項(xiàng)目 輸出功率 測試條件
測試方法介紹
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