測試機(jī) 文章 進(jìn)入測試機(jī)技術(shù)社區(qū)
芯片測試機(jī)面臨新挑戰(zhàn)，泰瑞達(dá)系列舉措捍衛(wèi)品牌
- 集成電路自動(dòng)測試設(shè)備（ATE，測試機(jī)）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機(jī)占據(jù)后道檢測設(shè)備的62.8%的份額（如圖1）。數(shù)據(jù)來源：SEMI，賽迪顧問整理圖1 2019年中國集成電路測試設(shè)備產(chǎn)品結(jié)構(gòu)ATE測試的趨勢是什么？為此，電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士，并深入了解了泰瑞達(dá)的產(chǎn)品特色與在華策略。1 芯片測試的新挑戰(zhàn)為了捍衛(wèi)電子產(chǎn)品的品牌，半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性能指標(biāo)，很短的上市時(shí)間，合理的成
- 關(guān)鍵字： 測試機(jī) ATE 芯片
惠瑞捷V93000平臺(tái)獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠采用
- 半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商惠瑞捷 (Verigy) (Advantest Group 愛德萬集團(tuán)子公司)今天宣布ISE Labs 在加州費(fèi)利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進(jìn)V93000 Smart Scale 數(shù)位量測模組以及Pin Scale測試機(jī)種之測試設(shè)備，進(jìn)一步擴(kuò)展雙方對于測試開發(fā)服務(wù)的合作關(guān)系。
- 關(guān)鍵字： 惠瑞捷 測試機(jī) V93000 Smart Scale
惠瑞捷同時(shí)推出可擴(kuò)展測試機(jī)臺(tái)與數(shù)字通道卡
- Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測試機(jī)臺(tái)系列，可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。 Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。智能測試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域，通過匹配受測器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求，實(shí)現(xiàn)全面的測試覆蓋率。
- 關(guān)鍵字： 惠瑞捷 測試機(jī)
聯(lián)電測試機(jī)臺(tái)賣斷給京元 晶圓測試欲委外代工
- 聯(lián)電為了提升產(chǎn)能運(yùn)用效率，未來朝向?qū)⒕A測試全數(shù)委外代工方向規(guī)劃。在聯(lián)電董事長洪嘉聰、京元電董事長李金恭的主導(dǎo)下，聯(lián)電將把手中所有約30臺(tái)測試機(jī)臺(tái)賣給京元電，交易價(jià)格約在新臺(tái)幣數(shù)億元，且不排除由京元電接收聯(lián)電測試部門。京元電買下聯(lián)電測試設(shè)備，短期營運(yùn)成本將會(huì)增加，但只要景氣回升，將可全包聯(lián)電龐大測試委外訂單。 聯(lián)電將于今（10）日舉行法說會(huì)，市場普遍預(yù)期本季晶圓出貨量將較上季減少約40％至45％，產(chǎn)能利用率恐下滑至30％出頭。由于短期內(nèi)訂單能見度仍然不佳，為了讓資本支出及產(chǎn)能達(dá)到最佳化，聯(lián)
- 關(guān)鍵字： 聯(lián)電 京元電 測試機(jī)
基于FPGA的PCB測試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)
- 引言 PCB 光板測試機(jī)基本的測試原理是歐姆定律，其測試方法是將待測試點(diǎn)間加一定的測試電壓，用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點(diǎn)，獲得兩點(diǎn)間電阻值對應(yīng)的電壓信號，通過電壓比較電路，測試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次，即可實(shí)現(xiàn)對整個(gè)電路板的測試。 由于被測試的點(diǎn)數(shù)比較多， 一般測試機(jī)都在2048點(diǎn)以上，測試控制電路比較復(fù)雜，測試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響測試機(jī)的測試速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 硬件控制系統(tǒng) 測試過程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下，控
- 關(guān)鍵字： FPGA PCB 測試機(jī) 硬件電路
基于FPGA的PCB測試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)
- 引言 PCB 光板測試機(jī)基本的測試原理是歐姆定律，其測試方法是將待測試點(diǎn)間加一定的測試電壓，用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點(diǎn)，獲得兩點(diǎn)間電阻值對應(yīng)的電壓信號，通過電壓比較電路，測試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次，即可實(shí)現(xiàn)對整個(gè)電路板的測試。 由于被測試的點(diǎn)數(shù)比較多， 一般測試機(jī)都在2048點(diǎn)以上，測試控制電路比較復(fù)雜，測試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響測試機(jī)的測試速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 硬件控制系統(tǒng) 測試過程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下
- 關(guān)鍵字： FPGA PCB 硬件電路 測試機(jī)
| 共6條 1/1 1 |
測試機(jī)介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試機(jī)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試機(jī)的理解，并與今后在此搜索測試機(jī)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試機(jī)的理解，并與今后在此搜索測試機(jī)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
測試機(jī)相關(guān)帖子
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473