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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試設(shè)備

          中國(guó)集成電路測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)概況及預(yù)測(cè)

          •   李?丹?(賽迪顧問(wèn)?集成電路產(chǎn)業(yè)研究中心,北京?100048)  摘?要:在國(guó)內(nèi)集成電路制造領(lǐng)域多個(gè)生產(chǎn)線項(xiàng)目的新建或擴(kuò)產(chǎn)帶動(dòng)下,設(shè)備需求量快速增長(zhǎng),國(guó)家出臺(tái)多項(xiàng)稅收優(yōu)惠政策,國(guó)產(chǎn)集成電路設(shè)備企業(yè)迎來(lái)政策紅利,進(jìn)口替代是國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備公司面臨的重大機(jī)遇和挑戰(zhàn)?! £P(guān)鍵詞:集成電路;測(cè)試設(shè)備;進(jìn)口替代;政策紅利;泰瑞達(dá)  在市場(chǎng)拉動(dòng)和政策支持下,我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展,整體實(shí)力顯著提升,集成電路的設(shè)計(jì)、制造能力與國(guó)際先進(jìn)水平差距不斷縮小,封裝測(cè)試技術(shù)逐步接近國(guó)際先進(jìn)水平,部分關(guān)鍵裝備和材料被國(guó)內(nèi)外生產(chǎn)
          • 關(guān)鍵字: 201910  集成電路  測(cè)試設(shè)備  進(jìn)口替代  政策紅利  泰瑞達(dá)  

          基于FPGA的ISA總線/MMи總線接口轉(zhuǎn)換設(shè)計(jì)

          • 某型導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備控制總線為通用的ISA總線,而通信接口總線為非標(biāo)準(zhǔn)的MMи總線。在此以FPGA為核心設(shè)計(jì)了一種ISA總線/MMи總線轉(zhuǎn)換電路,該電路可以完成2種制式的數(shù)據(jù)和控制指令轉(zhuǎn)換。給出了轉(zhuǎn)換電路原理框圖、FPGA配置電路和地址比較電路原理圖。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該電路具有轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,工作可靠等優(yōu)點(diǎn)。實(shí)際應(yīng)用表明,該電路完全能達(dá)到測(cè)試設(shè)備的要求。
          • 關(guān)鍵字: MMи總線  測(cè)試設(shè)備  FPGA  

          基于PCIE的多FC子卡測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

          • 通過(guò)對(duì)FC子卡測(cè)試需求的分析,文章提出了一種基于PCIE接口的多FC子卡測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)方法。主要采用PCIE交換進(jìn)行總線擴(kuò)展,最后經(jīng)過(guò)實(shí)現(xiàn)和驗(yàn)證,結(jié)果顯示該設(shè)計(jì)可以很好的滿足測(cè)試和試驗(yàn)要求,并且該設(shè)計(jì)通用性好,通過(guò)對(duì)該設(shè)計(jì)的升級(jí)改進(jìn),可以適用更多的PCI/PCIE設(shè)備,具有一定的實(shí)用意義。
          • 關(guān)鍵字: FC子卡  PCIE交換  測(cè)試設(shè)備  

          第四屆時(shí)代民芯大賽復(fù)賽調(diào)試設(shè)備免費(fèi)使用通知

          • 為鼓勵(lì)參賽選手盡快調(diào)試出參賽作品,經(jīng)大賽組委會(huì)商討,參賽選手可免費(fèi)使用北京時(shí)代民芯科技有限公司的一些自有測(cè)試設(shè)備(見(jiàn)附件清單)進(jìn)行參賽作品調(diào)試。
          • 關(guān)鍵字: 時(shí)代民芯  測(cè)試設(shè)備  

          溫度繼電器溫度特性測(cè)試設(shè)備研制

          愛(ài)德萬(wàn):半導(dǎo)體景氣明年Q2回溫

          •   測(cè)試設(shè)備大廠愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)臺(tái)灣總經(jīng)理吳慶桓表示,明年(2014)全球各區(qū)域經(jīng)濟(jì)體可持續(xù)成長(zhǎng);預(yù)估明年第2季半導(dǎo)體景氣可向上回溫。   愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在臺(tái)北舉辦產(chǎn)品發(fā)表記者會(huì),吳慶桓表示,明年全球各區(qū)域經(jīng)濟(jì)體可持續(xù)成長(zhǎng),有助推動(dòng)電子產(chǎn)品銷售成長(zhǎng)。   觀察近期全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)走勢(shì),吳慶桓表示,從6月開始感受半導(dǎo)體產(chǎn)能利用率下調(diào),預(yù)估修正期間將延續(xù)到明年年初,明年第2季稼動(dòng)率動(dòng)能可向上回溫。   展望明年測(cè)試設(shè)備資本支出,吳慶桓表示,明年電子產(chǎn)業(yè)測(cè)試設(shè)備整體資本支出狀況,可能會(huì)較今年持平
          • 關(guān)鍵字: 愛(ài)德萬(wàn)  測(cè)試設(shè)備  

          ADI鋰電池測(cè)試設(shè)備方案淺談

          • 應(yīng)用簡(jiǎn)介相對(duì)于其它化學(xué)電池,鋰電池具有許多優(yōu)勢(shì)。例如,與鎳氫電池或鎳鎘電池相比,鋰電池更輕,沒(méi)有記憶...
          • 關(guān)鍵字: ADI  鋰電池  測(cè)試設(shè)備  

          便攜式測(cè)試設(shè)備的FPGA設(shè)計(jì)

          • 過(guò)去,TMOEM設(shè)計(jì)的儀器都是根據(jù)某種標(biāo)準(zhǔn)完成測(cè)試過(guò)程。這樣,當(dāng)一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)或修訂后的標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布出來(lái)時(shí),他...
          • 關(guān)鍵字: 便攜式  測(cè)試設(shè)備  FPGA  

          HSDPA(高速下行鏈路分組接入)簡(jiǎn)介及對(duì)測(cè)試設(shè)備的

          • 隨著HSDPA的面世,人們能夠以快于傳統(tǒng)WCDMA的速度傳輸數(shù)據(jù)。這主要是通過(guò)一種更加復(fù)雜的調(diào)制格式和重復(fù)發(fā)送數(shù)據(jù)的步驟實(shí)現(xiàn)的。這些新的功能也影響到了相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法,本文介紹了HSDPA與傳統(tǒng)WCDMA的區(qū)別,
          • 關(guān)鍵字: HSDPA  下行鏈路  分組  測(cè)試設(shè)備    

          集成電路封裝與器件測(cè)試設(shè)備介紹

          • 電子封裝是一個(gè)富于挑戰(zhàn)、引人入勝的領(lǐng)域。它是集成電路芯片生產(chǎn)完成后不可缺少的一道工序,是器件到系統(tǒng)的橋梁。封裝這一生產(chǎn)環(huán)節(jié)對(duì)微電子產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力都有極大的影響。按目前國(guó)際上流行的看法認(rèn)為,在微電子
          • 關(guān)鍵字: 集成電路封裝  測(cè)試設(shè)備  器件    

          選擇最佳測(cè)試音和測(cè)試設(shè)備的成功高速ADC正弦波

          用于雷達(dá)測(cè)試和驗(yàn)證的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備

          • Author(s):R. Lauricella - Fiar S.p.A.A. Pozzi - Fiar S.p.A.Industry:Government/Defense, ATE/InstrumentationProducts:Data Acquisition, Instrument Connectivity, SoftwareThe Challenge:在無(wú)需操作員在場(chǎng)并在
          • 關(guān)鍵字: 雷達(dá)測(cè)試  測(cè)試設(shè)備  自動(dòng)化    

          空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷儀器的研究與開發(fā)

          • 摘要:空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷主要是電子電路故障診斷,應(yīng)建立兩級(jí)診斷儀器體系。介紹了故障診斷儀器中應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù)和設(shè)計(jì)實(shí)踐,指出了研究方向。
            關(guān)鍵詞:空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備;故障診斷;診斷儀器1 引言
            空空導(dǎo)
          • 關(guān)鍵字: 空空導(dǎo)彈  測(cè)試設(shè)備  故障診斷儀    

          消除測(cè)試設(shè)備對(duì)射頻器件測(cè)量影響

          • 提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測(cè)量的目標(biāo)。通過(guò)校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù),可以將VNA精度從儀器端口 ...
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)試設(shè)備  射頻器件  測(cè)量  

          如何測(cè)試備用蓄電池內(nèi)阻

          • 蓄電池內(nèi)阻測(cè)試設(shè)備的種類很多,他們的主要區(qū)別的測(cè)試蓄電池的種類不一樣,測(cè)試的蓄電池的容量和端電壓不一樣,這...
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)試設(shè)備  蓄電池內(nèi)阻  
          共35條 1/3 1 2 3 »

          測(cè)試設(shè)備介紹

          您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)試設(shè)備!
          歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)測(cè)試設(shè)備的理解,并與今后在此搜索測(cè)試設(shè)備的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
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