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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
三碟DVD/CD機(jī)架模組性能測(cè)試儀的研制
- 摘 要： 本文介紹了一種以單片機(jī)為核心,對(duì)3碟DVD和CD機(jī)的機(jī)架性能進(jìn)行相關(guān)參數(shù)測(cè)試的儀器，詳細(xì)介紹了該儀器的研制思路，測(cè)量原理和系統(tǒng)軟硬件結(jié)構(gòu)。關(guān)鍵詞： C52；DVD；CD；測(cè)試前言近兩年來(lái),單牒DVD已逐漸發(fā)展到3碟甚至5碟DVD。機(jī)芯的選片機(jī)構(gòu)也變得日益復(fù)雜,為此,機(jī)芯廠家趨向于為客戶提供完整的機(jī)架組件,包含機(jī)芯和全套托盤(pán)傳動(dòng)及控制機(jī)構(gòu)。但由于該機(jī)架組件各主要傳動(dòng)部件為塑膠件,易發(fā)生形變,在批量生產(chǎn)時(shí)傳動(dòng)性能不易進(jìn)行控制, 使系統(tǒng)軟件的編寫(xiě)較難確定合適的參數(shù)， 致使成品整機(jī)常出現(xiàn)碟盤(pán)轉(zhuǎn)不到位
- 關(guān)鍵字： C52 CD DVD 測(cè)試
線卡的環(huán)路測(cè)試
- 在制造電信線路卡時(shí)，必須保證它們符合各種標(biāo)準(zhǔn)，必須使每一線卡的接收器經(jīng)受抖動(dòng)和低功率信號(hào)的考驗(yàn)，其發(fā)送器必須能夠提供足夠的功率以最小的抖動(dòng)實(shí)現(xiàn)跨長(zhǎng)距離傳送，同時(shí)還必須對(duì)該線卡是否正確復(fù)用和解復(fù)用數(shù)據(jù)流進(jìn)行測(cè)試。表1是電信線路卡主要測(cè)試一覽表。進(jìn)行線卡測(cè)試時(shí)，必須把線卡安裝到模擬電信網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試臺(tái)中。圖1示出利用回送信號(hào)進(jìn)行線卡測(cè)試的典型測(cè)試過(guò)程。借助回送法，通過(guò)由電信測(cè)試裝置產(chǎn)生的光測(cè)試信號(hào)對(duì)線卡的接收器進(jìn)行測(cè)試。線卡的接收器把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，并將它沿背板回送給另一線卡，將測(cè)試信號(hào)環(huán)回到測(cè)試裝置。接收器
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試 線卡
全國(guó)電子測(cè)試工程系統(tǒng)學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)召開(kāi)
- 由中國(guó)電子學(xué)會(huì)測(cè)試與儀器分會(huì)、中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)國(guó)外儀器技術(shù)專業(yè)委員會(huì)和電子計(jì)量專業(yè)委員會(huì)聯(lián)合組織的“2002年全國(guó)計(jì)量、儀器、測(cè)控工程系統(tǒng)學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)”10月中旬在武夷山舉行。來(lái)自全國(guó)儀器儀表、測(cè)量測(cè)試行業(yè)、大學(xué)及產(chǎn)業(yè)界的100多名專業(yè)技術(shù)人員參加了大會(huì)。第二炮兵工程學(xué)院教授、工程院院士黃先祥先生到會(huì)并講話。哈爾濱工業(yè)大學(xué)孫圣和教授介紹了儀器儀表及測(cè)試測(cè)量技術(shù)，從模擬到數(shù)字，再到標(biāo)準(zhǔn)化模塊的發(fā)展趨勢(shì)及現(xiàn)狀。
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試 測(cè)試測(cè)量
測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
- IC測(cè)試、通信測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試和虛擬儀器的發(fā)展已出現(xiàn)一些新的勢(shì)態(tài)。 降低測(cè)試成本成為發(fā)展IC測(cè)試的首要目標(biāo) 對(duì)體積更小、功能更強(qiáng)的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，同時(shí)也推動(dòng)著IC設(shè)計(jì)和測(cè)試的發(fā)展。對(duì)于系統(tǒng)芯片（SOC）的測(cè)試，其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據(jù)英特爾公司副總裁提出的測(cè)試摩爾定律，未來(lái)幾年，每一晶體管的硅投資成本將低于其測(cè)試成本。 因此未來(lái)IC測(cè)試設(shè)備制造商面臨的最大挑戰(zhàn)是如何降低測(cè)試成本。 過(guò)去的集成電
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試 測(cè)試測(cè)量
測(cè)試介紹
中文名稱：
測(cè)試
英文名稱：
test
定義1：
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科：
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科：
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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