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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

          PCIE 3.0的動態(tài)均衡測試挑戰(zhàn)

          • 一、PCIE 3.0中使用的動態(tài)均衡概念因?yàn)镻CIE 3.0信號的速率可以達(dá)到8Gb/s,而且鏈路通道走線也可能會很長,這可能會導(dǎo)致高速信號衰減過大,在接收端無法得到張開的眼圖。因此在PCIE 3.0的Tx和Rx端均使用了均衡設(shè)置,以
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          誤碼率分析儀應(yīng)對高速通信的測試挑戰(zhàn)

          • 高速總線的速度和復(fù)雜度正在不斷提升,并且提升速度有越來越快的趨勢。為了提升通信速率,將多個高速串行總線并行組織起來使用,將會引起串?dāng)_現(xiàn)象。另一個問題是符號間干擾(ISI)。銅線具有介電效應(yīng),數(shù)據(jù)速率越快,距
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          使用Eye Doctor II工具分析解決測試著色難題

          • 在信號完整性測試中,由于探測點(diǎn)受限引入的傳輸線延遲,及芯片的寄生參數(shù),會導(dǎo)致測試波形在邊沿上有臺階或回溝。這種因測試引入的這種差異叫做測試著色,測試著色引入的信號質(zhì)量問題一般不用解決,但如何分辨測試著
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          利用GOOP編程技術(shù)的前熔斷絲測試

          • 通過提供一種有效的軟件架構(gòu),替換現(xiàn)有的測試軟件,從而能夠提供更好的技術(shù)支持與測試可靠性。完成這項(xiàng)工作不應(yīng)導(dǎo)致較長時間的停產(chǎn),而應(yīng)確保方便進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)。The Solution:利用GOOP(圖形化面向?qū)ο缶幊蹋┸浖軜?gòu)
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          手機(jī)RF抗干擾能力的測試

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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          射頻陶瓷貼片電容測試

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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          數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)的HA測試

          • 高可用性需求是數(shù)據(jù)中心最重要的需求之一,由于數(shù)據(jù)中心承載著網(wǎng)絡(luò)中的重要業(yè)務(wù)數(shù)據(jù),所以業(yè)務(wù)的高可用性(即業(yè)務(wù)的連續(xù)性)受到極大關(guān)注。不同等級的數(shù)據(jù)中心對網(wǎng)絡(luò)的高可用性有著不同的要求,但設(shè)備和鏈路的冗余設(shè)
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          射頻陶瓷貼片電容的測試

          • 中心議題:貼片電容模型測試夾具解決方案:網(wǎng)絡(luò)分析儀測量并結(jié)合一定的校準(zhǔn)方法目前廣泛應(yīng)用于各種射頻電路中的貼片電容因其尺寸和電容量均較小,沒有比較合適的射頻段測試儀器。我們應(yīng)用微波網(wǎng)絡(luò)理論分析后,自行設(shè)計
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          LTE定位技術(shù)及測試解決方案設(shè)計

          • 如今智能手機(jī)已經(jīng)在整個社會普及,數(shù)量眾多的手機(jī)應(yīng)用成為了人們生活當(dāng)中不可或缺的一部分。越來越多的手機(jī)應(yīng)用都用到了手機(jī)定位技術(shù),無論是本地搜索類應(yīng)用,還是各種商業(yè)信息發(fā)布類應(yīng)用,更不用說眾多的交通導(dǎo)航類
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          如何縮短ECU測試時間及提升測試效能的各種功能

          • 汽車電力系統(tǒng)的不當(dāng)調(diào)節(jié),會導(dǎo)致經(jīng)常發(fā)生電壓驟降和過擊的現(xiàn)象。在正常的情況下,電壓的范圍會介于11 到15 伏特之間,而在暫態(tài)開始和執(zhí)行的情況下,則會介于8 到24 伏特之間。因此,在測試引擎控制單元(ECU)時必須執(zhí)
          • 關(guān)鍵字: ECU  測試時間  測試  效能    

          嵌入式存儲器的測試及可測性設(shè)計研究

          • 引言 近年來,消費(fèi)者對電子產(chǎn)品的更高性能和更小尺寸的要求持續(xù)推動著SoC(系統(tǒng)級芯片)產(chǎn)品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要繼續(xù)推動這種無止境的需求以及繼續(xù)解決器件集成領(lǐng)域的挑戰(zhàn),最
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          DVB-H移動數(shù)字電視手機(jī)設(shè)計測試

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
          • 關(guān)鍵字: DVB-H  移動數(shù)字電視  手機(jī)方案  測試  

          提高汽車ECU的測試速度

          • 汽車電力系統(tǒng)的不當(dāng)調(diào)節(jié),會導(dǎo)致經(jīng)常發(fā)生電壓驟降和過擊的現(xiàn)象。在正常的情況下,電壓的范圍會介于11 到15 伏特之間,而在暫態(tài)開始和執(zhí)行的情況下,則會介于8 到24 伏特之間。因此,在測試引擎控制單元(ECU)時必須執(zhí)
          • 關(guān)鍵字: ECU  汽車  測試  速度    

          泛華恒興正式發(fā)布X-Designer

          • 近日,北京泛華恒興科技有限公司(簡稱:泛華恒興)召開了題為“測試平臺化軟件解決方案——X-Designer”的產(chǎn)品發(fā)布會,泛華恒興高級系統(tǒng)工程師、軟件組產(chǎn)品負(fù)責(zé)人宮晨、高級產(chǎn)品工程師李巍向業(yè)界做了正式發(fā)布,并介紹了X-Designer的核心組件:DAQ On Demand、Data On Demand和Test On Demand。
          • 關(guān)鍵字: 泛華恒興  測試  X-Designer  

          手機(jī)接收通道噪聲系數(shù)測試

          • 針對手機(jī)等接收機(jī)整機(jī)噪聲系數(shù)測試問題,該文章提出兩種簡單實(shí)用的方法,并分別討論其優(yōu)缺點(diǎn),一種方法是用單獨(dú)頻譜儀進(jìn)行測試,精度較低;另一種方法是借助噪聲測試儀的噪聲源來測試,利用冷熱負(fù)載測試噪聲系數(shù)的原理
          • 關(guān)鍵字: 手機(jī)  測試  噪聲系數(shù)    
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          測試介紹

            中文名稱:   測試   英文名稱:   test   定義1:   對在受控條件下運(yùn)動的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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