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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

          LED行業(yè)七大常用測試方法詳解

          • 1、高溫高壓及其沖擊測試:針對對象:LED燈具(含LED Driver的成品燈具)參照標(biāo)準(zhǔn):行業(yè)經(jīng)驗(yàn)測試方法:1,將5款LED燈具放置在一個室溫為60℃的房間;2,通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的1.1倍;3,接
          • 關(guān)鍵字: 方法  詳解  測試  常用  行業(yè)  七大  LED  

          基于CC4060環(huán)境濕度測試儀的設(shè)計

          • 摘要:環(huán)境濕度測試儀由濕敏電容HS1100,濕度頻率轉(zhuǎn)換器件NE555,基準(zhǔn)頻率產(chǎn)生及分頻器CC4060,頻率電平轉(zhuǎn)換器件CD4013等電路組成。環(huán)境濕度的變化會引起濕敏電容HS1100容量的改變,使NE555輸出信號頻率由常態(tài)的6 66
          • 關(guān)鍵字: 4060  CC  環(huán)境  測試    

          NI自動化測試技術(shù)展望:系統(tǒng)軟件棧

          •   軟件是自動化測試系統(tǒng)的重要組成部分,軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時起,軟件在自動化測試中的作用日益凸顯。事實(shí)上, 當(dāng)前大多數(shù)測試系統(tǒng)中,軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況,即雇傭的軟件工程師 比硬件工程師多。為了應(yīng)對軟件開發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開發(fā)周期的縮短,當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計一個強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧,以確保他們在軟件方面的投入能 夠被延續(xù)下去,提高軟件資源的重用率。事實(shí)上, 2010年NI進(jìn)行的測試經(jīng)理
          • 關(guān)鍵字: NI  測試  

          集成電路電磁干擾EMC測試方法

          • 標(biāo)簽:電磁干擾 EMC測試一、前言:集成電路產(chǎn)業(yè)是我國高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的一個重要部分,它帶動了其它產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展,集成電路已成為各個行業(yè)中電子、機(jī)電設(shè)備智能化的核心,起著十分重要的作用。近年來越來越多的電路設(shè)
          • 關(guān)鍵字: 測試  方法  EMC  干擾  電磁  集成電路  

          RF芯片測試夾具在微波測量中的應(yīng)用

          • 微波測量就是利用測量儀器對微波進(jìn)行定量實(shí)驗(yàn)的方法。在微波元件、器件和微波設(shè)備的生產(chǎn)過程中,有許多環(huán)節(jié)需要微波測量對其零部件、半成品和成品進(jìn)行檢驗(yàn),在設(shè)計時也需要利用微波測量獲得必要的數(shù)據(jù)。微波測量所需
          • 關(guān)鍵字: 測量  應(yīng)用  微波  夾具  芯片  測試  RF  

          巧妙測試嵌入式USB2.0主機(jī)接口信號質(zhì)量

          • 中心議題: 嵌入式產(chǎn)品中USB2.0主機(jī)接口的眼圖測試 USB2.0測試機(jī)理 解決方案: 使用PC主機(jī)替代嵌入式控制主機(jī) 對產(chǎn)品板級USB Hub進(jìn)行Down Stream Facing Port 的Test Packet測試 〔摘要〕本文主要討論了某款嵌入式產(chǎn)
          • 關(guān)鍵字: USB  2.0  測試  嵌入式    

          DDR測試系列之一――力科DDR2測試解決方案

          • DDR2簡介從1998年的PC100到今天的DDR3,內(nèi)存技術(shù)同CPU前端總線一道經(jīng)歷著速度的提升及帶寬的擴(kuò)展。雖然DDR3在當(dāng)今已經(jīng)量產(chǎn)與使用,DDR2在實(shí)際上還擔(dān)任著內(nèi)存業(yè)界應(yīng)用最廣泛最成熟的中流砥柱的角色。DDR2在DDR的基礎(chǔ)上
          • 關(guān)鍵字: DDR2  DDR  測試  力科    

          wifi天線制作及其測試

          • 本制作參考網(wǎng)上搜集的圖紙。據(jù)說有大概11DB的增益,完成后測試確實(shí)如此。材料:工具:

            參考圖紙:塑形: 簡單處理蚊香盤安裝天線:巧妙運(yùn)用熱縮管做絕緣層加錫固定: 制作固定架: 相機(jī)固定架:固定:配件:已
          • 關(guān)鍵字: 測試  及其  制作  天線  wifi  

          指針萬用表測試電阻器的方法介紹

          • 電阻器,簡稱電阻,是電子電路中最基礎(chǔ)的元器件之一,對電阻器的測試,是掌握和學(xué)習(xí)電子技術(shù)的基礎(chǔ)技能!以下介紹常見電阻器的測試方法和經(jīng)驗(yàn)?! ?.固定電阻器  測試方法:將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳
          • 關(guān)鍵字: 指針萬用表  測試  電阻器  方法    

          100G步入現(xiàn)網(wǎng)測試階段 產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)苤破骷款i

          •   2011年12月~2012年1月之間,中國電信、中國移動、中國聯(lián)通先后啟動了100G的實(shí)驗(yàn)室測試。   日前,中國電信100G實(shí)驗(yàn)室終于宣告結(jié)束。然而中國移動、中國聯(lián)通的測試仍屬進(jìn)行時,這比二者當(dāng)初規(guī)劃的測試完成時間已經(jīng)推遲了1個多月。   中國移動100G測試相關(guān)負(fù)責(zé)人在接受《通信產(chǎn)業(yè)報》(網(wǎng))記者采訪時表示,本次實(shí)驗(yàn)室測試包含傳輸性能測試、單廠傳輸、路由互通測試、多廠商互通測試,涉及廠商眾多,目前測試已經(jīng)接近尾聲,他說:“本次測試各廠商都表現(xiàn)不錯,測試結(jié)果較為理想、符合預(yù)期,雖然各
          • 關(guān)鍵字: 光通信  測試  

          地方政府積極申請 TD-LTE測試或?qū)⒃僭鋈鞘?

          •   7月5日消息,消息人士表示,日前又有3個城市擬申請參與TD-LTE規(guī)模技術(shù)試驗(yàn),而關(guān)于這3座城市已經(jīng)有不同版本。   2011年,中國移動宣布在杭州等六個城市進(jìn)行TD-LTE規(guī)模試驗(yàn)網(wǎng)的建設(shè),目前已有10個城市對市民開放了網(wǎng)絡(luò)體驗(yàn)活動。   2012年,中國移動將在北京、天津、上海、南京、杭州、廣州、深圳、廈門、青島等城市建設(shè)超過2萬個TD-LTE基站;2013年,TD-LTE擴(kuò)大規(guī)模試驗(yàn)取得成功后,TD-LTE基站規(guī)模將超過20萬個。   最近,又有消息稱TD-LTE測試將再增三城市,一種說法
          • 關(guān)鍵字: TD-LTE  測試  

          無線路由網(wǎng)絡(luò)的安全的性能如何測試

          • 標(biāo)簽:無線路由 性能測試當(dāng)前的技術(shù)進(jìn)步已經(jīng)使無線連接成為家庭的必備技術(shù),我們的筆記本電腦、手機(jī)、MP3播放機(jī)、藍(lán)光DVD播放機(jī)、甚至電視機(jī)都需要無線網(wǎng)絡(luò)連接,而為了利用這些設(shè)備的無線功能,我們必須要有網(wǎng)絡(luò)連
          • 關(guān)鍵字: 如何  測試  性能  安全  路由  網(wǎng)絡(luò)  無線  

          LD0、QLDO、VLDO的設(shè)計原理及測試方法介紹

          • O 引言  近年來低壓差穩(wěn)壓器(LD0,Low Dropout Regulator)、準(zhǔn)低壓差穩(wěn)壓器(QLDO,Quasi Low Dropout Regulator)和超低壓差穩(wěn)壓器(VLD0,Very Low Dropout Regulator)競相問世,并在低壓供電領(lǐng)域獲得推廣應(yīng)用?! ?/li>
          • 關(guān)鍵字: 測試  方法  介紹  原理  設(shè)計  QLDO  VLDO  LD0  

          淺談電磁兼容控制、設(shè)計及其測試

          • 摘要: 本文提出了對電磁兼容性的控制方法,以及針對不同的設(shè)備或系統(tǒng)不同的設(shè)計方案,并介紹了電磁兼容性的測試。關(guān)鍵詞: 電磁兼容性;控制;設(shè)計;測試自從電子系統(tǒng)降噪技術(shù)在70 年代中期出現(xiàn)以來,美國聯(lián)邦通訊委員會
          • 關(guān)鍵字: 電磁兼容  測試    

          智能型重力加速度測試儀的研制

          • 摘要:智能型重力加速度測試儀,是在原單擺實(shí)驗(yàn)裝置的基礎(chǔ)上,采用單片機(jī)和紅外光電傳感器實(shí)現(xiàn)對擺球的檢測和控制,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)自動釋放擺球、自動計數(shù)、自動計時、同時將檢測信號進(jìn)行自動處理,算出重力加速度。使傳統(tǒng)
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          測試介紹

            中文名稱:   測試   英文名稱:   test   定義1:   對在受控條件下運(yùn)動的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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