測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)

賽普拉斯EZ-USB FX3控制器支持微軟USB 3.0測試平臺

賽普拉斯半導(dǎo)體公司日前宣布微軟超高速USB測試工具 (SuperMUTT) 已經(jīng)選用了 EZ-USB FX3 USB 3.0 控制器。SuperMUTT 幾乎能夠與任何支持USB 3.0 的主機(jī)驅(qū)動器配合使用，以檢測與微軟即將發(fā)布的 Windows 8 的 USB兼容性。
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匝數(shù)對磁導(dǎo)率測試的影響分析

從軟磁材料的u~H曲線出發(fā)，研究在磁導(dǎo)率u的測量過程中，測試線圈匝數(shù)N對測試結(jié)果的影響。闡明N取一定數(shù)值時測出磁導(dǎo)率u值為最高的原因。關(guān)于測試樣環(huán)上測試磁場H徑向不均勻的影響，用積分法解決。指出環(huán)磁導(dǎo)率與材料
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智能變電站的測試與評估

智能變電站(含電廠升壓站及AGC)是智能電網(wǎng)的重要基礎(chǔ)和支撐，智能變電站設(shè)備具有信息數(shù)字化、功能集成化、結(jié)構(gòu)緊湊化、狀態(tài)可視化等主要技術(shù)特征，智能變電站系統(tǒng)應(yīng)建立站內(nèi)全景數(shù)據(jù)的統(tǒng)一信息平臺，供各子系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化
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基于復(fù)用的SOC測試技術(shù)

基于復(fù)用的SOC測試技術(shù),1 引言90年代國際上出現(xiàn)的SOC概念，以系統(tǒng)為中心、基于IP模塊多層次、高度復(fù)用的設(shè)計(jì)思想受到普遍重視和廣泛應(yīng)用。SOC的高集成度和復(fù)雜度使得SOC測試面臨挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)的基于整個電路的測試方法不再適用。對于IP模塊和S
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以軟件為核心的測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

如今，伴隨著新技術(shù)的不斷涌現(xiàn)和各行業(yè)新需求的不斷增加，更多差異化產(chǎn)品投放市場的步伐也在不斷加快，這些產(chǎn)品不但集成了更多功能，而且還必須縮減開發(fā)周期，以便在與同類產(chǎn)品的競爭中獲得優(yōu)勢。與此同時，各企業(yè)也
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ic是什么意思

IC，即集成電路是采用半導(dǎo)體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照 ...
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選擇測試和測量系統(tǒng)時注意事項(xiàng)

在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇，對初次用戶和有經(jīng)驗(yàn)的用戶來說，都一樣難辦，這是可以理解的。技術(shù)的進(jìn)步使測量和測試方法的發(fā)展呈指數(shù)方式加快，給用戶提供難以想象的強(qiáng)大系統(tǒng)功能。測試和測量設(shè)備跨
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針對納米器件的脈沖I-V測試小技巧

在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因?yàn)槠渲行枰謩e加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應(yīng)。這里，低電平測量技術(shù)不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電
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為發(fā)射器或組件測試選擇合適的分析儀

目前，市場上有許多可供選擇的分析儀，有些具備非常特殊的專業(yè)用途，有些則提供了較多的通用射頻測量能力；有些被稱為頻譜分析儀，有些則被稱為信號分析儀。這些分析儀都是用來測量和顯示信號頻率與幅度之間的關(guān)系的
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IxLoad在WAP網(wǎng)關(guān)系統(tǒng)測試中的應(yīng)用

1 引言移動互聯(lián)網(wǎng)用戶在過去的幾年中高速增長，據(jù)統(tǒng)計(jì)目前全球范圍內(nèi)移動寬帶用戶數(shù)已經(jīng)超過了有線寬帶用戶數(shù)（540M，480M），權(quán)威機(jī)構(gòu)預(yù)測這個數(shù)字在未來的5年內(nèi)將會達(dá)到1.7B。同時，移動互聯(lián)網(wǎng)的業(yè)務(wù)流量也呈現(xiàn)了爆
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DDR3測試的挑戰(zhàn)及解決方法

前言作為DDR2的繼任者，根據(jù)JEDEC標(biāo)準(zhǔn), 目前DDR3的數(shù)據(jù)速率跨度從800Mbps開始直至1.6Gbps。在帶給用戶更快性能體驗(yàn)的同時, DDR3卻能保持較低的功耗，相比DDR2減少約20%。雖然2008年整個DRAM市場低迷，DDR3的出貨量遠(yuǎn)
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解析在布線系統(tǒng)測試中遇到的三大疑問

　現(xiàn)在由于需要支持10G以太網(wǎng)的測試，各個標(biāo)準(zhǔn)正在對儀器需要的精度進(jìn)行討論，基本只有達(dá)到IV精度的儀器才能支持10G以太網(wǎng)的測試?！　〉?，現(xiàn)在不論是TIA,ISO還是IEEE,都還沒有對IV精度應(yīng)該達(dá)到什么樣的標(biāo)準(zhǔn)最后定
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測試測量關(guān)鍵基礎(chǔ)之示波器（一）

一、示波器不可不知的問題　　Q1: 在高速串行測試時，對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標(biāo)是最關(guān)鍵的 ...
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測試測量設(shè)計(jì)實(shí)例（一）

一、簡易多波形信號發(fā)生器電路設(shè)計(jì)　　信號發(fā)生器在電子實(shí)驗(yàn)中作為信號源，通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
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SoC的發(fā)展將使測試與測量設(shè)備嵌入芯片

復(fù)雜 IC 不僅吸引了更多系統(tǒng)，而且還吞食著設(shè)計(jì)者用于建立、評估與校準(zhǔn)芯片的測試設(shè)備。要點(diǎn)芯片設(shè)計(jì)者正開始在自己的復(fù)雜 IC上設(shè)計(jì)測試與測量儀器。在IC中設(shè)計(jì)測試儀器的潮流開始于CPU核心與總線的數(shù)字調(diào)試硬件?，F(xiàn)
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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運(yùn)動的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]