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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

測試文章進(jìn)入測試技術(shù)社區(qū)

安捷倫為雷達(dá)和國防電子測試測量推出新產(chǎn)品

　安捷倫科技公司日前宣布推出一系列用于雷達(dá)和國防電子測試測量的新產(chǎn)品。
關(guān)鍵字：安捷倫測試雷達(dá) 國防電子

新型的嵌入式存儲(chǔ)器測試算法

新型的嵌入式存儲(chǔ)器測試算法,摘要：針對(duì)目前嵌入式存儲(chǔ)器測試算法的測試效率與故障覆蓋率難以兼得的現(xiàn)狀，提出了兼顧二者的測試算法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該算法最適合對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行大批量的測試。在測試效率上的優(yōu)勢很明顯，故障覆蓋率也能達(dá)到應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
關(guān)鍵字：算法測試存儲(chǔ)器嵌入式新型

油井井下高溫度和壓力測試系統(tǒng)研究與應(yīng)用

摘要：為了對(duì)井下溫度壓力參數(shù)測試系統(tǒng)進(jìn)行研制，采用鉑電阻和藍(lán)寶石硅晶體作為前端傳感器，系統(tǒng)采用井下直接測量，避免通過中間介質(zhì)進(jìn)行傳導(dǎo)，可實(shí)現(xiàn)較小誤差。恒流源驅(qū)動(dòng)方式使采集前端信號(hào)工作穩(wěn)定，采用時(shí)間同步
關(guān)鍵字：溫度測試壓力系統(tǒng)研究

開關(guān)電源測試探討

在電子環(huán)境中，電磁干擾對(duì)電源的工作會(huì)產(chǎn)生一定的影響，源效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)小的電源其穩(wěn)定性較好，電子工程師在電源設(shè)計(jì)中應(yīng)考慮到這些方面?！　∫?、測試項(xiàng)目　　需測項(xiàng)目包括開關(guān)電源空載輸出、額定負(fù)載時(shí)電壓和電流
關(guān)鍵字：探討測試開關(guān)電源

通過嵌入式存儲(chǔ)器測試和修復(fù)解決良品率問題

關(guān)鍵字：存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)中存儲(chǔ)器容量的增加以及嵌入式存儲(chǔ)器支配整個(gè)裸片良品率的事實(shí)，使良品率設(shè)計(jì)(DFY)面臨日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，特別是在新興的90nm和65nm半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。由于嵌入式存儲(chǔ)器容易產(chǎn)生較高的
關(guān)鍵字：嵌入式存儲(chǔ)器測試

音頻IC測試面臨新挑戰(zhàn)

關(guān)鍵字：音頻ICHDTV（高清電視）正在通過下一代 SoC（單片系統(tǒng)）平臺(tái)呈現(xiàn)強(qiáng)勁的勢頭，這是一個(gè)眾所周知的趨勢。用于機(jī)頂盒、電視監(jiān)視器、硬盤播放機(jī)，以及（不久將來的）移動(dòng)媒體播放機(jī)都將具備 HD 能力。但這一變革
關(guān)鍵字：音頻IC 測試臨新挑戰(zhàn)

軟件測試中對(duì)于測試計(jì)劃有效性問題的分析

近半年以來，我們部門大大小小的測試項(xiàng)目也做了不少。對(duì)于如何組織測試工作，各個(gè)測試組長/測試負(fù)責(zé)人都積極發(fā)揮著自己的主觀能動(dòng)性，為提高測試質(zhì)量和測試效率而積極思考。但是，唯一有個(gè)問題讓一些組織者絞盡腦汁
關(guān)鍵字：軟件測試測試分析

基于LabVIEW的集成電路測試分析儀

摘要：為滿足高校實(shí)驗(yàn)室對(duì)數(shù)字集成芯片的測試需求，利用LabVIEW軟件和單片機(jī)技術(shù)，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了集成電路測試分析儀。與常見的集成電路測試儀相比，系統(tǒng)的特色在于依托LabVIEW強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和圖形顯示功能，不僅能完成
關(guān)鍵字：分析儀測試集成電路 LabVIEW 基于

系統(tǒng)DC電源的選擇影響著測試吞吐量

關(guān)鍵字：DC電源測試吞吐量許多電子產(chǎn)品的自動(dòng)測試時(shí)間只有幾秒鐘，系統(tǒng)DC電源可能在這一時(shí)間中占相當(dāng)大的比重，因此在優(yōu)化測試吞吐量值得關(guān)注。但是，電源的判斷標(biāo)準(zhǔn)通常是價(jià)格和輸出功率，而不是其對(duì)測試吞吐量的影
關(guān)鍵字：系統(tǒng) DC電源測試吞吐量

靈活LTE測試技術(shù)簡介

長期演進(jìn)(LTE)無線網(wǎng)絡(luò)給測試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
關(guān)鍵字： LTE 測試技術(shù)簡介

利用示波器進(jìn)行電源紋波分析及測試

一、什么叫紋波？　　紋波（ripple）的定義是指在直流電壓或電流中，疊加在直流穩(wěn)定量上的交流分量?！　∷饕幸韵潞μ帲骸　?.1．容易在用電器上產(chǎn)生諧波，而諧波會(huì)產(chǎn)生更多的危害；　　1.2．降低了電源的效率；
關(guān)鍵字：示波器電源紋波分析測試

安捷倫科技公司和Lime Microsystems攜手合作

安捷倫科技公司和 Lime Microsystems 日前聯(lián)合發(fā)布一套由測試設(shè)備、收發(fā)信機(jī)技術(shù)和控制軟件構(gòu)成的全新定制產(chǎn)品，用于測試和評(píng)估先進(jìn)無線系統(tǒng)。評(píng)測平臺(tái)包含全套測試設(shè)備和軟件，可為當(dāng)前的數(shù)字和軟件無線電設(shè)計(jì)人員節(jié)省開發(fā)時(shí)間、縮短優(yōu)化周期和加快新產(chǎn)品的上市速度。
關(guān)鍵字：安捷倫測試收發(fā)信機(jī)

SoC測試的概念及實(shí)例詳解

本文主要介紹了一個(gè)具有可測性設(shè)計(jì)和可制造性設(shè)計(jì)的新型單片系統(tǒng)，該系統(tǒng)由硬盤控制器(HDC)、16位微控制器、微控制器使用的程序和數(shù)據(jù)SRAM以及用8M位DRAM實(shí)現(xiàn)的片上緩存組成，再加上時(shí)鐘綜合PLL、帶外部旁路晶體管的
關(guān)鍵字： SoC 測試概念實(shí)例

測試竅門：選擇合適的示波器帶寬

關(guān)鍵字：示波器帶寬帶寬是大多數(shù)工程師在選擇一款示波器時(shí)首先考慮的參數(shù)。本文將為您提供一些有用的竅門，教您如何為您的數(shù)字和模擬應(yīng)用選擇合適的示波器帶寬。但首先，我們先看看示波器帶寬的定義。示波器帶寬的定
關(guān)鍵字：測試示波器帶寬

嵌入式半導(dǎo)體器件混合信號(hào)測試策略

嵌入式半導(dǎo)體器件混合信號(hào)測試策略, 混合信號(hào)技術(shù)給當(dāng)今的半導(dǎo)體制造商們帶來了很多新挑戰(zhàn),以前一些對(duì)數(shù)字電路只有很小影響的缺陷如今在嵌入式器件中卻可能大大改變模擬電路的功能,導(dǎo)致器件無法使用。為確保這些新型半導(dǎo)體器件達(dá)到“無缺陷rdquo
關(guān)鍵字：測試策略信號(hào) 混合半導(dǎo)體器件嵌入式

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測試介紹

　　中文名稱：　　測試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]

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測試電路

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