測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

測(cè)試語(yǔ)言的發(fā)展

測(cè)試語(yǔ)言的發(fā)展介紹幾種主要的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試語(yǔ)言，分析了目前測(cè)試語(yǔ)言中存在的問(wèn)題，指出了通用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試語(yǔ) ...
關(guān)鍵字：測(cè)試

BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路最優(yōu)測(cè)試集的生成設(shè)計(jì)

1 引言　　人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是基于模仿生物大腦的結(jié)構(gòu)和功能而構(gòu)成的一種信息處理系統(tǒng)。國(guó)際著名的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)專(zhuān)家Hecht Nielsen 給神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的定義是：“神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是一個(gè)以有向圖為拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)系統(tǒng)，它通過(guò)對(duì)連續(xù)或
關(guān)鍵字： BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 電路測(cè)試

TD-HSDPA PS異系統(tǒng)間重試與外場(chǎng)測(cè)試

作為T(mén)D-SCDMA無(wú)線(xiàn)資源管理的關(guān)鍵算法之一，準(zhǔn)入控制(AC：AccessControl)是通過(guò)建立一個(gè)無(wú)線(xiàn)接入承載(RB：RadioBearer)來(lái)接納或拒絕一個(gè)請(qǐng)求。當(dāng)RB建立或發(fā)生改變的時(shí)候，需要執(zhí)行接入控制算法。當(dāng)系統(tǒng)負(fù)載比較高的時(shí)
關(guān)鍵字： TD-HSDPA 系統(tǒng) 測(cè)試

測(cè)試三極管的萬(wàn)用表附加裝置

測(cè)試三極管的萬(wàn)用表附加裝置
關(guān)鍵字：測(cè)試三極管萬(wàn)用表附加裝置

NI為多媒體裝置測(cè)試提供影像測(cè)試解決方案

NI為多媒體裝置測(cè)試提供影像測(cè)試解決方案美商國(guó)家儀器(National Instruments；NI)發(fā)表一采用PXI Express架構(gòu) ...
關(guān)鍵字：多媒體測(cè)試影像測(cè)試

PIC單片機(jī)在電容測(cè)量模塊中的應(yīng)用

摘要：為提高電容測(cè)量精度，針對(duì)電容式傳感器的工作原理設(shè)計(jì)了基于PICl6LF874單片機(jī)電容測(cè)量模塊。簡(jiǎn)單闡述了電 ...
關(guān)鍵字： PICl6LF874 電容傳感器 PS02l 測(cè)試

在TD-LTE系統(tǒng)組網(wǎng)中測(cè)試中下行流量

無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)側(cè)用戶(hù)數(shù)據(jù)處理的流程圖1-1 3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶(hù)面協(xié)議棧　　圖1-1是3GPP LTE網(wǎng)絡(luò)的用戶(hù)面協(xié)議棧 [1]。左邊藍(lán)色框內(nèi)是無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)側(cè)的用戶(hù)面協(xié)議棧。下行數(shù)據(jù)從核心網(wǎng)傳輸?shù)交緜?cè)后，經(jīng)過(guò)PDCP層、RLC層和MAC層
關(guān)鍵字： TD-LTE 系統(tǒng) 測(cè)試流量

CMOS電路IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)

摘要：針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè)，提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法，并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)觀(guān)察測(cè)試電路輸出的高低電平可知被測(cè)電路是否存在物理缺
關(guān)鍵字：電路設(shè)計(jì) 測(cè)試 IDDQ 電路 CMOS

μC／OS-II定時(shí)器算法分析與測(cè)試

引言
mu;C／OS-II操作系統(tǒng)是建立在微內(nèi)核基礎(chǔ)上的實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，搶占式多任務(wù)、微內(nèi)核、移植性好等特點(diǎn)，使其在諸多領(lǐng)域都有較好的應(yīng)用。
在mu;C／OS-II 2．83及其以后的版本中，一個(gè)較大的變化就是增加
關(guān)鍵字： OS-II 定時(shí)器測(cè)試算法分析

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案概述：提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案，詳細(xì)介 ...
關(guān)鍵字： CPLD 觸發(fā)存儲(chǔ) 測(cè)試

電源紋波分析及測(cè)試一點(diǎn)通

一、什么叫紋波？紋波(ripple)的定義是指在直流電壓或電流中,疊加在直流穩(wěn)定量上的交流分量。它主要有以下...
關(guān)鍵字：電源紋波測(cè)試

快速讀懂Android裝置測(cè)試要領(lǐng)

隨著智能型手機(jī)與平板裝置這幾年在消費(fèi)性電子領(lǐng)域的迅速崛起，各家廠(chǎng)商無(wú)不竭盡所能的競(jìng)相爭(zhēng)逐。若以操作系統(tǒng)...
關(guān)鍵字： Android 測(cè)試

振動(dòng)發(fā)電機(jī)測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

傳感器網(wǎng)絡(luò)近來(lái)已延伸至各種環(huán)境及工業(yè)數(shù)據(jù)采集應(yīng)用中，傳感器節(jié)點(diǎn)常用在不易接近和維護(hù)成本較高的地方?！　∫揽坎糠蛛娐芳せ罨蚩撮T(mén)狗，新一代微控制器能夠?qū)崿F(xiàn)僅幾微安的功耗。低功耗的感應(yīng)器件經(jīng)常應(yīng)用到基礎(chǔ)設(shè)施
關(guān)鍵字：振動(dòng)發(fā)電機(jī) 測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

提升性能在RAID中使用SSD性能擴(kuò)展測(cè)試

RAID陣列搭配幾十個(gè)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器使用是實(shí)現(xiàn)一定性能水平的常見(jiàn)方法。本文我們將展示SSD RAID陣列如何進(jìn)行完美的擴(kuò)展，以及在什么情況下幾個(gè)閃存驅(qū)動(dòng)器將能夠取代整個(gè)硬盤(pán)機(jī)房。1. RAID擴(kuò)展分析日益增長(zhǎng)的SSD固態(tài)硬盤(pán)市
關(guān)鍵字： RAID SSD 性能測(cè)試

扣式電池的充放電測(cè)試

扣式電池組裝成型后，靜置6小時(shí)，即可進(jìn)行充放電實(shí)驗(yàn)。用恒電流方式對(duì)電池進(jìn)行充放電，充放電的條件視實(shí)驗(yàn)需要不同而定。通過(guò)不同充放電電流倍率、不同的充放電電壓范圍的恒電流充放電實(shí)驗(yàn)來(lái)測(cè)量電池的首次充放電容量
關(guān)鍵字：扣式電池充放電測(cè)試

共2411條 56/161 |‹ « 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 » ›|

測(cè)試介紹

　　中文名稱(chēng)：　　測(cè)試　　英文名稱(chēng)：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]