測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

高亮度LED的全方位測(cè)試

　高亮發(fā)光二極管(High brightness light emitting diodes，HBLED)綜合具備了高輸出、高效率和長(zhǎng)壽命等優(yōu)勢(shì)。圖1示出了典型的二極管的電I-V特性曲線。雖然一個(gè)完整的測(cè)試程序可以包括數(shù)百個(gè)點(diǎn)，但對(duì)一個(gè)有限的樣本的
關(guān)鍵字：測(cè)試全方位 LED 亮度

用指針萬(wàn)用表測(cè)試電阻器的方法與經(jīng)驗(yàn)

電阻器，簡(jiǎn)稱電阻，是電子電路中最基礎(chǔ)的元器件之一，對(duì)電阻器的測(cè)試，是掌握和學(xué)習(xí)電子技術(shù)的基礎(chǔ)技能!以下介紹常見電阻器的測(cè)試方法和經(jīng)驗(yàn)?！　?.固定電阻器　　測(cè)試方法：將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳
關(guān)鍵字：指針萬(wàn)用表測(cè)試電阻器法與經(jīng)驗(yàn)

NI發(fā)布最新版本軟件NI VeriStand 2011

2011年9月—— 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments 簡(jiǎn)稱NI)發(fā)布最新版本基于配置的軟件環(huán)境NI VeriStand 2011，用于實(shí)時(shí)測(cè)試和仿真應(yīng)用，包括硬件在環(huán)(HIL)仿真和Test Cell中的測(cè)控應(yīng)用。直觀、開放的軟件界面幫助工程師實(shí)現(xiàn)出眾的系統(tǒng)靈活性，同時(shí)也減少了測(cè)試開發(fā)時(shí)間。全新版本進(jìn)一步增強(qiáng)了內(nèi)置的實(shí)時(shí)激勵(lì)配置工具，可快速創(chuàng)建復(fù)雜的實(shí)時(shí)執(zhí)行測(cè)試序列，包括循環(huán)和分支結(jié)構(gòu)、組合運(yùn)算功能以及多任務(wù)處理等等。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試 VeriStand 2011

玩具產(chǎn)品EMC測(cè)試及其存在的主要問題

隨著社會(huì)科技的不斷發(fā)展，玩具已不僅僅是面向孩子們的產(chǎn)品，已經(jīng)深人到各個(gè)年齡階層。相應(yīng)地對(duì)玩具的生產(chǎn)設(shè)計(jì)也...
關(guān)鍵字： EMC 測(cè)試 CEEMI

基于FPGA的系統(tǒng)易測(cè)試性的研究

基于FPGA的系統(tǒng)易測(cè)試性的研究,引言
　　現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測(cè)試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設(shè)計(jì)
關(guān)鍵字：研究測(cè)試系統(tǒng) FPGA 基于

泰克在線虛擬實(shí)驗(yàn)室進(jìn)一步提升客戶體驗(yàn)

2011年9月26日---全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商—泰克公司日前宣布，擴(kuò)展其在線虛擬實(shí)驗(yàn)室，新增LED測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、變頻器測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、逆變器測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。新增實(shí)驗(yàn)室將與原高速串行實(shí)驗(yàn)室一起共同構(gòu)成全新的泰克在線虛擬體驗(yàn)平臺(tái)。該平臺(tái)為工程師提供了從方案指導(dǎo)、型號(hào)選擇、產(chǎn)品演示到產(chǎn)品報(bào)價(jià)、預(yù)約線下實(shí)驗(yàn)室參觀的一系列功能，方便使用和導(dǎo)航，可幫助其在最短時(shí)間內(nèi)獲得最全面的實(shí)用信息，并為進(jìn)一步體驗(yàn)提供便捷預(yù)約方式。
關(guān)鍵字：泰克測(cè)試

跨越RFID測(cè)試挑戰(zhàn)“三重門”，加速物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展

物聯(lián)網(wǎng)遙不可及還是近在咫尺？工信部電信研究院在2011年5月發(fā)布的物聯(lián)網(wǎng)白皮書中預(yù)計(jì)，“十二五”期末中國(guó)物聯(lián)網(wǎng)相關(guān)產(chǎn)業(yè)規(guī)模將達(dá)到5,000多億元，形成萬(wàn)億元級(jí)規(guī)模的時(shí)間節(jié)點(diǎn)預(yù)計(jì)在“十三五”后
關(guān)鍵字：加速聯(lián)網(wǎng) 產(chǎn)業(yè)發(fā)展三重挑戰(zhàn) RFID 測(cè)試跨越

音視頻SoC測(cè)試要求幾應(yīng)用

隨著大批量消費(fèi)類行業(yè)中SoC與SIP日趨復(fù)雜化，低成本與高器件壽命周期這兩個(gè)基本要求的矛盾更加突出。消費(fèi)者要求在相同或更低成本基礎(chǔ)上提高性能，同時(shí)還常常提出新的改進(jìn)。因此必須以低成本而又極其快速地對(duì)元器件進(jìn)
關(guān)鍵字：應(yīng)用要求測(cè)試 SoC 音視頻

吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版KTE 5.3

美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版。KTE V5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。
關(guān)鍵字：吉時(shí)利測(cè)試 KTE5.3

吉時(shí)利發(fā)布最新2200系列可編程通用電源產(chǎn)品線

美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今天發(fā)布了五款新的通用可編程直流電源，以補(bǔ)充吉時(shí)利用于組件、模塊、器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的現(xiàn)有專業(yè)電源產(chǎn)品線及源測(cè)量?jī)x器組。最新發(fā)布的型號(hào)2200系列電源產(chǎn)品線以經(jīng)濟(jì)有效的價(jià)格、靈活的操作、功能結(jié)合卓越的電壓和電流輸出準(zhǔn)確度，提升了各種器件特性分析和測(cè)試應(yīng)用的易用性。
關(guān)鍵字：吉時(shí)利測(cè)試 2200系列

基于ZigBee技術(shù)的紅外人體探測(cè)系統(tǒng)測(cè)試

摘要：為減少城市戰(zhàn)傷亡率，提出了一種基于ZigBee和藍(lán)牙技術(shù)的紅外人體探測(cè)系統(tǒng)方案。以星型網(wǎng)絡(luò)為原型，對(duì)系統(tǒng)的探測(cè)距離及靈敏度、抗干擾能力、節(jié)點(diǎn)功耗、穿透能力進(jìn)行了測(cè)試，做出了定量分析，提出了增大發(fā)射功率
關(guān)鍵字：探測(cè) 系統(tǒng) 測(cè)試人體紅外 ZigBee 技術(shù) 基于

吉時(shí)利發(fā)布半導(dǎo)體測(cè)試軟件升級(jí)版KTE 5.3

　　吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評(píng)的吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境(KTE)半導(dǎo)體測(cè)試軟件的升級(jí)版。KTEV5.3是專為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟(jì)有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的。
關(guān)鍵字：吉時(shí)利測(cè)試 KTEV5.3

惠瑞捷V93000 SOC 測(cè)試平臺(tái)裝機(jī)數(shù)量達(dá)到2,500 臺(tái)

Advantest 集團(tuán)（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下公司惠瑞捷 (Verigy)的 V93000 片上系統(tǒng) (SOC) 測(cè)試平臺(tái)安裝數(shù)量已達(dá) 2,500 臺(tái)，具有重大里程碑意義。此次具有里程碑意義的裝機(jī)為日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司（簡(jiǎn)稱 ASE，臺(tái)灣證券交易所：2311，紐約證券交易所：ASX）多系統(tǒng)訂單的一部分。日月光為世界最大的 IC 封裝和測(cè)試服務(wù)的獨(dú)立供應(yīng)商。
關(guān)鍵字： Verigy SOC IC 測(cè)試

實(shí)例RIGOL開關(guān)電源測(cè)試

近幾年，電力電子設(shè)備與人們的工作、生活的關(guān)系日益密切，程控交換機(jī)、通訊、電子設(shè)備、控制設(shè)備等都已廣泛地使...
關(guān)鍵字： RIGOL開關(guān)電源測(cè)試

頻率計(jì)測(cè)試中的精度計(jì)算

頻率計(jì)作為高精度的頻率和時(shí)間測(cè)試儀表，測(cè)試精度高于普通的頻譜儀和示波器，所以測(cè)試精度的計(jì)算就更加為人關(guān)注。影響測(cè)試精度，或者說產(chǎn)生誤差的因素很多，而其中最主要的因素是儀表內(nèi)部時(shí)基穩(wěn)定度、分辨率、觸發(fā)精
關(guān)鍵字：頻率計(jì) 測(cè)試精度計(jì)算

共2411條 59/161 |‹ « 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 » ›|

測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]