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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試

          邁卡公司推出新一代Trigger Grip

          • 邁卡公司,世界領(lǐng)先的精密清洗、涂敷及潤(rùn)滑產(chǎn)品供應(yīng)商,日前推出了最新一代、專為配合其溶劑使用而設(shè)計(jì)的、倍受業(yè)界矚目的Trigger Grip系統(tǒng)。
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          開關(guān)變壓器的伏秒容量與測(cè)量

          • 摘要:伏秒容量表示:一個(gè)開關(guān)變壓器能夠承受多高的輸入電壓和多長(zhǎng)時(shí)間的沖擊。在開關(guān)變壓器伏秒容量一定的條...
          • 關(guān)鍵字: 開關(guān)變壓器  伏秒容量  測(cè)試  

          高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的相位不平衡測(cè)試

          • 使用高速ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)進(jìn)行產(chǎn)品開發(fā)時(shí),或者評(píng)估這些器件以便用于設(shè)計(jì)時(shí),必須注意ADC的輸出諧波。ADC通常使用差分輸入,使共模噪聲和失真降至最低,但只有在平衡和對(duì)稱的情況下,這些輸入才能發(fā)揮最大效用??梢允?/li>
          • 關(guān)鍵字: 高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器  不平衡  測(cè)試  相位    

          LTE網(wǎng)絡(luò)容量空中接口測(cè)試

          • LTE的發(fā)展對(duì)容量測(cè)試提出許多新的挑戰(zhàn),需要采用不同于3G網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試方法和技術(shù)。LTE的系統(tǒng)架構(gòu)比UMTS更加扁平,這意味著容量測(cè)試傳統(tǒng)上使用的基帶網(wǎng)絡(luò)接口已不適用于LTE網(wǎng)絡(luò)。本文探討這些挑戰(zhàn),并基于成熟的空中接口
          • 關(guān)鍵字: 接口  測(cè)試  空中  容量  網(wǎng)絡(luò)  LTE  

          電源噪聲濾波器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

          • 摘要:分析了電源噪聲濾波器的基本原理,并對(duì)一個(gè)電源噪聲濾波器實(shí)例進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),經(jīng)測(cè)試表明該濾波器對(duì)10k...
          • 關(guān)鍵字: 電源噪聲  濾波器  設(shè)計(jì)  測(cè)試  

          大功率直流電機(jī)測(cè)試電源設(shè)計(jì)

          • 直流電機(jī)相對(duì)交流電機(jī)有調(diào)速性能優(yōu)良、調(diào)速方便、平滑、調(diào)速范圍廣等優(yōu)點(diǎn),因此仍然廣泛應(yīng)用于很多工業(yè)場(chǎng)合。直流調(diào)速主要有以下幾種方式:電樞串電阻調(diào)速、改變電樞電壓調(diào)速、PWM直流調(diào)整系統(tǒng)、雙閉環(huán)直流調(diào)速系統(tǒng)、
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          一種GUI自動(dòng)化測(cè)試框架方案

          • 目前,在GUI自動(dòng)化測(cè)試中,很多軟件體系都采用錄制回放技術(shù)。這種技術(shù)要求測(cè)試者通過鼠標(biāo)和鍵盤的點(diǎn)擊進(jìn)行工作,腳本記錄事件,然后以自動(dòng)化測(cè)試的方式進(jìn)行回放。記錄下來的測(cè)試腳本必須經(jīng)過編輯和調(diào)試之后插入驗(yàn)證和
          • 關(guān)鍵字: 框架  方案  測(cè)試  自動(dòng)化  GUI  一種  

          高精度ISA總線測(cè)試板卡設(shè)計(jì)

          • 高精度ISA總線測(cè)試板卡設(shè)計(jì),本文介紹了Windows 98環(huán)境下基于PC機(jī)工業(yè)控制器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),著重論述了如何保證 自行設(shè)計(jì)的ISA總線測(cè)試板卡系統(tǒng)精度以及設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過程中的抗干擾、總線驅(qū)動(dòng)等關(guān)鍵問題   1 概述  工業(yè)控制器作為工業(yè)監(jiān)測(cè)控制的關(guān)
          • 關(guān)鍵字: 板卡  設(shè)計(jì)  測(cè)試  總線  ISA  高精度  

          上半年EPS/矽格1.21元 優(yōu)于同業(yè)

          •   半導(dǎo)體專業(yè)測(cè)試廠矽格(6257)公布上半年稅后純益4.25億元,低于去年同期的5.98億元,每股稅后純益1.21元仍優(yōu)于同業(yè)。   矽格上半年合并營(yíng)收為22.68億元,比去年同期減少6.64%;毛利率由去年同期的36.92%,降至29.6%;上半年稅后純益4.25億元,每股稅后純益1.21元。
          • 關(guān)鍵字: 矽格  測(cè)試  

          PCB外觀及功能性測(cè)試相關(guān)術(shù)語(yǔ)

          • 1.綜合詞匯1.1 as received 驗(yàn)收態(tài)
            提交驗(yàn)收的產(chǎn)品尚未經(jīng)受任何條件處理,在正常大氣條件下機(jī)械試驗(yàn)時(shí)阿狀態(tài)1.2 production board 成品板
            符合設(shè)計(jì)圖紙,有關(guān)規(guī)范和采購(gòu)要求的,并按一個(gè)生產(chǎn)批生產(chǎn)出來的任何一塊印
          • 關(guān)鍵字: PCB  測(cè)試  相關(guān)術(shù)語(yǔ)    

          干擾對(duì)CDMA手機(jī)接收器測(cè)試的影響

          • 噪聲影響  對(duì)手機(jī)進(jìn)行測(cè)試時(shí),考慮噪聲之前首先應(yīng)了解手機(jī)的結(jié)構(gòu)。手機(jī)里既有發(fā)射器(TX)又有接收器(RX),發(fā)射器發(fā)射功率在+30dBm到-55dBm之間,接受器信號(hào)接收范圍則在-20dBm到-108dBm之間。CDMA手機(jī)的發(fā)射器和接收
          • 關(guān)鍵字: CDMA  干擾  測(cè)試  手機(jī)接收器    

          動(dòng)力電池組測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

          •   圖3 均衡電路  CS5460A 芯片能夠精確檢測(cè)和計(jì)算有功電能、瞬時(shí)功率、IRM S和VRM S, 本系統(tǒng)用兩片CS5460 分別檢測(cè)電流、安時(shí)和瓦時(shí)。其中一片CS5460 采用分壓電阻檢測(cè)電壓, 分流器檢測(cè)電流, 通過軟件設(shè)置,它
          • 關(guān)鍵字: 設(shè)計(jì)  平臺(tái)  測(cè)試  電池組  動(dòng)力  

          100G以太網(wǎng)光學(xué)測(cè)試解決方案

          • 新型100GBASE-LR4和ER4接口最具挑戰(zhàn)性的技術(shù)要求是光學(xué)發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試。光學(xué)發(fā)射機(jī)發(fā)送波形(眼圖)一致性測(cè)試要求中包括需要新的參考接收機(jī)及采用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘恢復(fù)單元(CRU),其中參考接收機(jī)要有嚴(yán)格控制的頻響及19.34G
          • 關(guān)鍵字: 解決方案  測(cè)試  光學(xué)  以太網(wǎng)  100G  

          基于空中接口射頻的容量測(cè)試

          • 本文探討這些挑戰(zhàn),并說明基于成熟的空中接口通過射頻(RF) 進(jìn)行容量測(cè)試的方法。
          • 關(guān)鍵字: 容量  測(cè)試  射頻  接口  空中  基于  

          生產(chǎn)環(huán)境下高亮度LED的高精度高性價(jià)比測(cè)試

          • 可見光發(fā)光二極管(LED)兼具高效率和長(zhǎng)壽命的特點(diǎn)。目前,它們的應(yīng)用十分廣泛。制造商們通過對(duì)LED器件的深入研究已經(jīng)研制出了具有更高光通量、更長(zhǎng)壽命、更多色彩和更高每瓦流明數(shù)的新器件。精確而高性價(jià)比的測(cè)試對(duì)于確保器件的可靠性和質(zhì)量至關(guān)重要。
          • 關(guān)鍵字: LED  測(cè)試  I-V1特性  201107  
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          測(cè)試介紹

            中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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