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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
LED光電特性的測(cè)試內(nèi)容與方法介紹
- 半導(dǎo)體發(fā)光二極管（LED）是新型的發(fā)光體，電光效率高、體積小、壽命長(zhǎng)、電壓低、節(jié)能和環(huán)保，是下一代理想的照明器件。LED光電測(cè)試是檢驗(yàn)LED光電性能的重要而且唯一的手段，相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果是評(píng)價(jià)和反映當(dāng)前我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的依據(jù)。制定LED光電測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)是統(tǒng)一衡量LED產(chǎn)品光電性能的重要途徑，是使測(cè)試結(jié)果真實(shí)反映我國(guó)LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的前提。本文結(jié)合最新的LED測(cè)試方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，介紹了LED的光電性能測(cè)試的幾個(gè)主要方面。
- 關(guān)鍵字： 方法 介紹 內(nèi)容 測(cè)試 光電 特性 LED
有線電視網(wǎng)絡(luò)的光纜接續(xù)與測(cè)試
- “光進(jìn)銅退”是有線電視網(wǎng)絡(luò)寬帶化、雙向化的發(fā)展趨勢(shì), 有線電視網(wǎng)絡(luò)改造應(yīng)將光纖進(jìn)一步向用戶端推進(jìn), 實(shí)現(xiàn)高可靠、高帶寬、高承載力、可管理、可運(yùn)營(yíng)的目標(biāo)。在目前的雙向網(wǎng)絡(luò)改造中, 光纖到小區(qū)、光
- 關(guān)鍵字： 有線電視網(wǎng)絡(luò) 光纜接續(xù) 測(cè)試
RFID產(chǎn)品認(rèn)證與測(cè)試
- 無(wú)線射頻辨識(shí)(RadioFrequencyIdentification,RFID)產(chǎn)品在目前臺(tái)灣地區(qū)常用或熱門(mén)的頻率為小于135kHz、13...
- 關(guān)鍵字： RFID 產(chǎn)品認(rèn)證 測(cè)試
摩爾定律用于測(cè)試領(lǐng)域
- 1965年，Intel的創(chuàng)始人之一戈登?摩爾(Gordon Moore)指出，自從1958年集成電路問(wèn)世以來(lái)，集成電路上的元件個(gè)數(shù)每年翻一番。 五年后，這個(gè)發(fā)現(xiàn)被叫做摩爾定律，它以預(yù)測(cè)元件數(shù)每18個(gè)月翻一番而聞名。在長(zhǎng)達(dá)半個(gè)世紀(jì)的時(shí)間里這個(gè)定律在每個(gè)工業(yè)領(lǐng)域給電子器件帶來(lái)了巨大的性能提升和成本降低。然而，基于傳統(tǒng)儀器的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展并沒(méi)有跟上摩爾定律，因此這些系統(tǒng)難以滿足成本和性能要求。 相比之下，摩爾定律適用于軟件定義的模塊化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其尺寸、價(jià)格和功耗減少等方面的改
- 關(guān)鍵字： NI 摩爾定律 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱：
測(cè)試
英文名稱：
test
定義1：
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科：
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科：
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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