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基于MSP430F42x的工業(yè)信號產(chǎn)生與測量儀表的設(shè)計
- 0 引言 這篇論文介紹了工業(yè)信號的產(chǎn)生與測量原理，主要研究了基于TI公司MSP430F42x的工業(yè)信號的產(chǎn)生與測 ...
- 關(guān)鍵字： MSP430F42x 工業(yè)信號 測量儀表
工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)信號產(chǎn)生與測量儀表設(shè)計
- 介紹了基于MSP430F42x系列MCU工業(yè)信號產(chǎn)生與測量儀表，該儀表可以產(chǎn)生工業(yè)電壓、電流及頻率信號，并對這些信號進(jìn)行準(zhǔn)確測量；同時闡述了該儀表的工作原理，給出了該儀表的原理框圖和主要電路原理圖。實(shí)驗(yàn)證明該儀表是實(shí)用的和成功的，可以實(shí)現(xiàn)預(yù)定的設(shè)計功能。
- 關(guān)鍵字： 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 測量儀表 信號產(chǎn)生
測量儀表設(shè)計關(guān)鍵之?dāng)?shù)據(jù)采集（一）
- 一、基于LabVIEW的通用數(shù)據(jù)采集卡的驅(qū)動 介紹一種通過LabVIEW提供的Call Library Function Node實(shí)現(xiàn)對動態(tài)鏈接庫（DLL）調(diào)用的方法，完成對通用數(shù)據(jù)采集卡的驅(qū)動，實(shí)現(xiàn)LabVIEW與通用數(shù)據(jù)采集卡的結(jié)合。？ LabV
- 關(guān)鍵字： 測量儀表 數(shù)據(jù)采集
電子負(fù)載及其在檢測設(shè)備測試中的應(yīng)用
- 前言：隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動、電源模塊測試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言，其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測試設(shè)備。 1電子負(fù)載概述 1.1電子負(fù)載的定義及其應(yīng)用實(shí)例 電子負(fù)載，顧名思義，是用電子器件實(shí)現(xiàn)的“負(fù)載”功能，其輸出端口符合歐姆定律。具體地說，電子負(fù)載是通過控制內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量，使功率管耗散功率，消耗電能的設(shè)備。
- 關(guān)鍵字： 電子負(fù)載 測量儀表
基于隔離和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的高精溫濕度測量儀表
- 本儀表成功應(yīng)用于上海市檢測中心400個實(shí)驗(yàn)室中目前運(yùn)行狀況良好，與DDC間絕對誤差不超過±O.03℃。
- 關(guān)鍵字： 隔離 測量儀表 網(wǎng)絡(luò)技術(shù) 溫濕度
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