溫度測(cè)試 文章 進(jìn)入溫度測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于CPLD及鎢錸熱電偶溫度傳感器的爆炸場(chǎng)溫度動(dòng)態(tài)測(cè)試
- 為了測(cè)量爆炸場(chǎng)等惡劣環(huán)境下溫度的動(dòng)態(tài)變化,分析炸藥或相關(guān)彈藥的爆炸參數(shù),設(shè)計(jì)了基于CPLD的低功耗溫度存儲(chǔ)式測(cè)試系統(tǒng);運(yùn)用鎢錸熱電偶溫度傳感器匹配先進(jìn)的電源管理模塊,并結(jié)合動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù),能夠應(yīng)用于環(huán)境條件比較差的惡劣環(huán)境中,在可靠可信、微功耗的基礎(chǔ)上能得到較好的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
- 關(guān)鍵字： 時(shí)序仿真 溫度測(cè)試 CPLD
TC-08溫度記錄儀在光學(xué)薄膜激光量熱吸收測(cè)試的應(yīng)用
- 摘要：在激光系統(tǒng)中，光學(xué)薄膜的抗激光強(qiáng)度較低，這是光學(xué)薄膜研究中最重要的問題之一。測(cè)量光學(xué)薄膜對(duì)強(qiáng)激光的熱吸收情況對(duì)于光學(xué)薄膜的性能研究具有重大意義，而TC-08是一款可靠靈活的溫度記錄儀。本文介紹了利用TC-08溫度記錄儀“接觸式”地測(cè)試光學(xué)薄膜激光量熱吸收的測(cè)試，大大地?cái)U(kuò)展了TC-08在光電行業(yè)的應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字： 廣州虹科 光學(xué)薄膜 熱吸收 TC-08溫度記錄儀 溫度測(cè)試
| 共7條 1/1 1 |
溫度測(cè)試介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條溫度測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)溫度測(cè)試的理解，并與今后在此搜索溫度測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)溫度測(cè)試的理解，并與今后在此搜索溫度測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
溫度測(cè)試電路
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473