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高精度與高功率密度齊頭并進(jìn)，解鎖數(shù)據(jù)中心測(cè)試的未來(lái)藍(lán)圖

• 作者：是德科技產(chǎn)品營(yíng)銷經(jīng)理Gobinath Tamil Vanan摘要為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個(gè)過(guò)程中光器件的作用變得越來(lái)越重要。實(shí)現(xiàn)電信號(hào)與光信號(hào)之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測(cè)試解決方案，尤其是用于對(duì)高度集成的光器件執(zhí)行測(cè)試的解決方案。盡管這些器件的測(cè)試還面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)，但已經(jīng)有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確度。正文為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個(gè)過(guò)程中光器件的關(guān)鍵作用日益顯現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)電信號(hào)與光信號(hào)之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測(cè)試解決方案，尤其是能夠?qū)Ω叨燃傻墓?/li>
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