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為什么我的處理器漏電？
- 在最簡單意義上，處理器功耗主要有兩方面：內(nèi)核和I/O。當(dāng)涉及到抑制內(nèi)核功耗時(shí)，我會(huì)檢查諸如以下的事情：PLL配置/時(shí)鐘速度、內(nèi)核供電軌、內(nèi)核的運(yùn)算量。有多種辦法可以使內(nèi)核功耗降低，例如：降低內(nèi)核時(shí)鐘速度，或執(zhí)行某些指令迫使內(nèi)核停止運(yùn)行或進(jìn)入睡眠/休眠狀態(tài)。如果懷疑I/O吞噬了所有功耗，我會(huì)關(guān)注I/O電源、I/O開關(guān)頻率及其驅(qū)動(dòng)的負(fù)載。
- 關(guān)鍵字： 處理器，漏電
基于P87LPC764型單片機(jī)的延時(shí)型漏電繼電器設(shè)計(jì)
- 摘要：介紹以P87LPC764型單片機(jī)為核心的延時(shí)型漏電繼電器設(shè)計(jì)方案。該方案可供用戶選擇實(shí)現(xiàn)額定動(dòng)作電流和5倍額定動(dòng)作電流下不同的延時(shí)動(dòng)作時(shí)間，并有重合閘設(shè)定選擇功能。解決了以往傳統(tǒng)分立元件帶來的延時(shí)時(shí)間離散
- 關(guān)鍵字： P87LPC764型 延時(shí)型 漏電
貼片電容短路與漏電故障原因分析
- 貼片電容擊穿和漏電性質(zhì)是相同的，漏電嚴(yán)重時(shí)就等同于擊穿。軸向電容所以兩種故障對(duì)電容電路的影響也是相似的。下面一起來學(xué)習(xí)一下： 貼片電容擊穿和漏電性質(zhì)是相同的，漏電嚴(yán)重時(shí)就等同于擊穿。軸向電容所以兩種故障對(duì)電容電路的影響也是相似的。 貼片電容擊穿后對(duì)直流形成開路，造成直流電路工作不正常。換句話說，當(dāng)電容擊穿時(shí)通過測(cè)量電路中有關(guān)測(cè)試點(diǎn)的直流電壓大小，可以發(fā)現(xiàn)電容是否擊穿或漏電。電容擊穿后只對(duì)該電容局部電路產(chǎn)生影響。 因?yàn)樵谄渌娐分腥杂须娙萑詫?duì)直流有隔絕作用。根據(jù)這一原理可以縮短檢修范圍
- 關(guān)鍵字： 貼片電容 漏電
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