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靈敏測試文章進入靈敏測試技術(shù)社區(qū)

【4200 SMU應用文章】之實例篇：支持千倍以上負載電容的靈敏測試

使用長電纜或電容夾頭的測試設置會增加測試儀器輸出的電容，導致測量結(jié)果不準確或不穩(wěn)定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時，能觀察到這種效應。為了應對這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時利4200A-SCS參數(shù)分析儀引入了兩個新的源測量單元（SMU）模塊，即使在測試連接電容較高的應用中，該模塊也可以進行穩(wěn)定的低電流測量。節(jié)能的要求越來越高，這就需要越來越低的電流，這是一個日益嚴峻的測量挑戰(zhàn)，如測試智能手機或平板電腦的大型LCD面板。高電容測試連接可能會出現(xiàn)問題的應用，還包括：探卡上的納米FET I-V測量，使用長電
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