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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 熱模型

          碳化硅MOSFET的短路實(shí)驗(yàn)性能與有限元分析法熱模型的開發(fā)

          • 本文的目的是分析碳化硅MOSFET的短路實(shí)驗(yàn)(SCT)表現(xiàn)。具體而言,該實(shí)驗(yàn)的重點(diǎn)是在不同條件下進(jìn)行專門的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量,并借助一個(gè)穩(wěn)健的有限元法物理模型來證實(shí)和比較測(cè)量值,對(duì)短路行為的動(dòng)態(tài)變化進(jìn)行深度評(píng)估。
          • 關(guān)鍵字: 碳化硅(SiC)MOSFET  短路  熱模型  

          包含熱模型的新型MOSFET PSPICE模型

          • 1. 引言  散熱器在計(jì)算時(shí)會(huì)出現(xiàn)誤差,一般說來主要原因是很難精確地預(yù)先知道功率損耗,每只器件的參數(shù)參差不 ...
          • 關(guān)鍵字: 熱模型  MOSFET  PSPICE  

          面向 Vishay 光耦合器產(chǎn)品的新型熱模型可縮短設(shè)計(jì)時(shí)間

          共4條 1/1 1

          熱模型介紹

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