熱設(shè)計 文章 進入熱設(shè)計技術(shù)社區(qū)
揭秘熱設(shè)計:集成電路設(shè)計的關(guān)鍵密碼
- 熱設(shè)計是一個至關(guān)重要的課題,其中的各種規(guī)則、縮略語和復(fù)雜方程時常讓人感到它似乎是個深不可測的神秘領(lǐng)域;但其對于集成電路設(shè)計的意義卻不容忽視——畢竟,溫度是導致大多數(shù)半導體在現(xiàn)實應(yīng)用中失效的最大環(huán)境因素。元件的預(yù)期壽命會隨著溫度的每一度升高而縮短。本文將帶您深入探討設(shè)計工程師在熱設(shè)計過程中需要關(guān)注的一些關(guān)鍵問題。具體來說,我們將聚焦大功率氮化鎵(GaN)器件及其在實際應(yīng)用中所面臨的相關(guān)熱問題。針對可靠性的熱設(shè)計熱設(shè)計是一個復(fù)雜的課題,但其中也有一些基礎(chǔ)原理值得深入探討。首先讓我們回顧一下在印刷電路板(PCB
- 關(guān)鍵字: Qorvo 熱設(shè)計 集成電路設(shè)計
開關(guān)電源的熱設(shè)計方法詳解
- 開關(guān)電源已普遍運用在當前的各類電子設(shè)備上,其單位功率密度也在不斷地提高。高功率密度的定義從1991年的25w/ ...
- 關(guān)鍵字: 開關(guān)電源 熱設(shè)計
開關(guān)電源的熱設(shè)計
- 開關(guān)電源內(nèi)部的溫升過高,將會導致對溫度敏感的半導體器件、電解電容等元器件的失效。當溫度超過一定值時...
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熱設(shè)計介紹
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