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          紅外探測(cè)器技術(shù)的發(fā)展

          • 1、前言所有物體均發(fā)射與其溫度和特性相關(guān)的熱輻射,環(huán)境溫度附近物體的熱輻射大多位于紅外波段。紅外...
          • 關(guān)鍵字: 紅外探測(cè)器  熱輻射  紅外波段  

          電磁輻射及熱輻射掃描系統(tǒng)介紹

          •   電磁輻射及熱輻射掃描系統(tǒng)     隨著現(xiàn)代電子系統(tǒng)主頻的提高、集成度的增加、產(chǎn)品體積的縮小,系統(tǒng)內(nèi)部信號(hào)產(chǎn)生的電磁輻射也隨之增加,從而產(chǎn)生信號(hào)與信號(hào)間的電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時(shí)會(huì)影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性甚至導(dǎo)致功能失效。同樣,由于系統(tǒng)的電磁輻射的增加,會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)與系統(tǒng)間產(chǎn)生電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時(shí),會(huì)影響另一系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性,甚至導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。為此,產(chǎn)品的電磁兼容性(EMC)指標(biāo)已經(jīng)成為產(chǎn)品能否走向市場(chǎng)的關(guān)鍵。傳統(tǒng)上,要檢驗(yàn)一個(gè)產(chǎn)品是否符合EMC標(biāo)準(zhǔn),必須要把產(chǎn)品原型拿到開(kāi)闊場(chǎng)或E
          • 關(guān)鍵字: 單片機(jī)  電磁輻射  嵌入式系統(tǒng)  熱輻射  
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          熱輻射介紹

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