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藍(lán)牙測(cè)試模式實(shí)現(xiàn)及其物理層觀(guān)測(cè)(圖)

• 摘 要：藍(lán)牙測(cè)試模式是藍(lán)牙規(guī)范的一部分，無(wú)論是藍(lán)牙電路的設(shè)計(jì)還是應(yīng)用開(kāi)發(fā)，都離不開(kāi)測(cè)試模式的使用。本文介紹了測(cè)試模式的實(shí)驗(yàn)室實(shí)現(xiàn)和在此模式下藍(lán)牙物理層(基帶)波形的觀(guān)測(cè)。這里只討論發(fā)送測(cè)試(transmitter test)(即恒定凈荷)，不涉及環(huán)回測(cè)試(loop back test)。關(guān)鍵詞：藍(lán)牙測(cè)試模式；物理層波形；數(shù)據(jù)包格式 測(cè)試模式簡(jiǎn)介---藍(lán)牙(bluetooth)的測(cè)試模式支持藍(lán)牙的收發(fā)測(cè)試，主要用于驗(yàn)證與配合射頻和基帶層的測(cè)試，也可用于常規(guī)性認(rèn)證和生產(chǎn)售后的測(cè)試。在測(cè)試模式下的器件不一定
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