特性測試 文章 進(jìn)入特性測試技術(shù)社區(qū)
超快速IV測試技術(shù)簡介-半導(dǎo)體器件特性測試的變革
- 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時(shí)利的原測試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
- 關(guān)鍵字： IV測試 技術(shù)簡介 半導(dǎo)體器件 特性測試
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)
- 引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字： JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測試
WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試
- WLAN技術(shù)帶來了新挑戰(zhàn)，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點(diǎn)功率管理的效率如何？這些問題必須通過綜合測試方案加以解決，本文專門論述了WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試的意義和優(yōu)勢。WLAN技術(shù)為半導(dǎo)體
- 關(guān)鍵字： WLAN 器件 網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃 特性測試
超快速IV測試技術(shù)-半導(dǎo)體器件特性測試的變革
- 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時(shí)利的原測試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
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