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特性測試儀文章進入特性測試儀技術社區(qū)

數(shù)字控制幅頻特性測試儀的技術研究

文章以ARM微處理器為核心，采用直接頻率合成技術，設計了一種低頻高精度的幅頻特性測試儀。系統(tǒng)以直接數(shù)字頻率合成器AD9851作為掃頻信號源，用真有效值轉(zhuǎn)換芯片AD637實現(xiàn)對被測網(wǎng)絡的幅頻特性的測量，經(jīng)ARM采樣與處理，最后得到被測網(wǎng)絡的幅頻特性曲線。實驗結(jié)果表明，本系統(tǒng)不僅能實現(xiàn)各種測試功能，而且測試頻率能提高到8MHz。因此本系統(tǒng)為現(xiàn)代電子科研實驗室提供了一種高精度和有較高實用價值的低頻幅頻特性測試儀。
關鍵字：數(shù)字控制技術研究特性測試儀

共1條 1/1 1

特性測試儀介紹

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