特性阻抗 文章 進入特性阻抗技術(shù)社區(qū)
高速單片機硬件關(guān)鍵參數(shù)設(shè)計概述
- 摘要:隨著目前新技術(shù)、新工藝的不斷出現(xiàn),高速單片機的應(yīng)用越來越廣,對硬件的可靠性問題便提出更高的要求。本文將從硬件的可靠性角度描述高速單片機設(shè)計的關(guān)鍵點。 關(guān)鍵詞:高速單片機 可靠性 特性阻抗 SI PI EMC 熱設(shè)計 引 言 隨著單片機的頻率和集成度、單位面積的功率及數(shù)字信號速度的不斷提高,而信號的幅度卻不斷降低,原先設(shè)計好的、使用很穩(wěn)定的單片機系統(tǒng),現(xiàn)在可能出現(xiàn)莫名其妙的錯誤,分析原因,又找不出問題所在。另外,由于市場的需求,產(chǎn)品需要采用高速單片
- 關(guān)鍵字: 高速單片機 可靠性 特性阻抗 SI PI EMC 熱設(shè)計 MCU和嵌入式微處理器
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