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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 文章 進(jìn)入環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)社區(qū)
基于嵌入式的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 為提高環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)的控制精度與穩(wěn)定性，實(shí)現(xiàn)國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)的自主化設(shè)計(jì)，提出了一種基于嵌入式技術(shù)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制系統(tǒng)。控制系統(tǒng)包括控制器、測(cè)控模塊，其中控制器以ARM Cortex-A9四核微處理器為核心，負(fù)責(zé)人機(jī)界面的運(yùn)行、邏輯運(yùn)算、I/O與PID控制;測(cè)控模塊以LPC1758為核心，采用24位高精度ADC，負(fù)責(zé)設(shè)備整機(jī)參數(shù)的采集;I/O模塊包含多路繼電器輸出與晶體管輸出，集成了電子膨脹閥控制輸出。該控制系統(tǒng)的控制精度與穩(wěn)定性滿足環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的控制要求，更為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的發(fā)展與升級(jí)提供
- 關(guān)鍵字： 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 控制器 測(cè)控模塊 ARM Cortex-A9 201508
電源檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選擇方法
- 一、設(shè)備選擇依據(jù)存在于地球表面及大氣層空間中的自然環(huán)境因素和誘發(fā)環(huán)境因素的種類，目前還無(wú)法...
- 關(guān)鍵字： 電源檢測(cè) 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 設(shè)備選擇
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的理解，并與今后在此搜索環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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