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          分析造成元器件失效的因素 提高可靠性

          •   電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心,電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是電子信息技術(shù)應(yīng)用的必要保證。   開展電子元器件失效分析,需要采用一些先進(jìn)的分析測試技術(shù)和儀器。   1 光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)   光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)主要有立體顯微鏡和金相顯微鏡。   立體顯微鏡放大倍數(shù)小,但景深大;金相顯微鏡放大倍數(shù)大,從幾十倍到一千多倍,但景深小。把這兩種顯微鏡結(jié)合使用,可觀測到器件的外觀,以及失效部位的表面形狀、分布、尺寸、組織、結(jié)構(gòu)和應(yīng)力等。如用來觀察到芯片
          • 關(guān)鍵字: 電子元器件  電子信息技術(shù)  

          汽車智能傳感器

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          電子信息技術(shù)介紹

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