電子元件老化文章進(jìn)入電子元件老化技術(shù)社區(qū)

電子元件老化——電壓基準(zhǔn)中的長(zhǎng)期漂移（LTD）

了解制造商如何表征和估計(jì)用于電子元件老化預(yù)測(cè)的電壓參考的長(zhǎng)期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應(yīng)該與溫度和時(shí)間無(wú)關(guān)，但現(xiàn)實(shí)世界的電壓參考可能會(huì)受到溫度和老化的影響。考慮到這一點(diǎn)，本文將討論制造商如何表征和估計(jì)電壓參考的LTD。為了更好地為本文做好準(zhǔn)備，閱讀之前的文章以了解石英晶體、電阻器和放大器的老化效應(yīng)可能很重要。電壓基準(zhǔn)的老化效應(yīng)總的來(lái)說(shuō)，電壓基準(zhǔn)的輸出會(huì)隨時(shí)間而變化。通常，半導(dǎo)體材料的摻雜水平和封裝材料施加到電壓參考管芯的物理應(yīng)力會(huì)隨時(shí)間變化，導(dǎo)致電壓參考輸出中的LTD。電壓參考的LTD
關(guān)鍵字：電子元件老化，電壓基準(zhǔn)，長(zhǎng)期漂移，LTD

使用溫度計(jì)算和Arrhenius方程了解電阻器和放大器的老化行為，以了解電阻器漂移、電阻器穩(wěn)定性和運(yùn)算放大器漂移。之前，我們討論了使用相對(duì)較短的測(cè)試時(shí)間來(lái)評(píng)估電子元件長(zhǎng)期穩(wěn)定性的高溫加速老化方法。在本文中，我們將繼續(xù)討論并研究電阻器和放大器的老化行為。老化預(yù)測(cè)——老化引起的電阻漂移首先，讓我們記住電阻器的值會(huì)隨著時(shí)間而變化。在許多電路中，只需要總的精度，電阻器老化可能不是一個(gè)嚴(yán)重的問(wèn)題。然而，某些精密應(yīng)用需要在指定壽命內(nèi)長(zhǎng)期漂移低至百萬(wàn)分之幾的電阻器。因此，開發(fā)具有足夠精度的老化預(yù)測(cè)模型以確保所采用的精密
關(guān)鍵字：電子元件老化，電阻，運(yùn)算放大器，老化效應(yīng)，Arrhenius

了解如何計(jì)算老化過(guò)程的活化能，以及關(guān)于Arrhenius方程在預(yù)測(cè)晶體老化過(guò)程時(shí)的有用性的一些相互矛盾的觀點(diǎn)。在之前的一篇文章中，我們討論了高溫加速老化方法是一種有效的技術(shù)，它使制造商能夠使用相對(duì)較短的測(cè)試時(shí)間來(lái)確定電子元件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。例如，使用這種方法，從30天的測(cè)試中獲得的數(shù)據(jù)可能足以以可接受的精度確定一年后晶體的漂移。為了應(yīng)用這項(xiàng)技術(shù)，我們需要知道衰老過(guò)程的活化能。在這篇文章中，我們將了解更多關(guān)于計(jì)算老化過(guò)程的活化能。我們還將探討關(guān)于Arrhenius方程/公式在應(yīng)用于老化預(yù)測(cè)問(wèn)題時(shí)的有用性的一些
關(guān)鍵字： Arrhenius方程電子元件老化

了解由于使用石英晶體的溫度和時(shí)間，以及應(yīng)用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，電子元件的老化和穩(wěn)定性挑戰(zhàn)。即使有固定的輸入，電子電路也不是完全穩(wěn)定的；經(jīng)常隨時(shí)間和溫度漂移。這些與理想行為的偏差會(huì)給精確測(cè)量增加相當(dāng)大的誤差。隨時(shí)間漂移，也稱為長(zhǎng)期穩(wěn)定性，是需要長(zhǎng)時(shí)間高精度應(yīng)用的關(guān)鍵因素。測(cè)量系統(tǒng)的初始精度誤差通?？梢酝ㄟ^(guò)初始校準(zhǔn)來(lái)消除；然而，消除長(zhǎng)期漂移的誤差需要定期校準(zhǔn)。此外，這些校準(zhǔn)在某些工業(yè)、醫(yī)療、軍事和航空航天應(yīng)用中可能不切實(shí)際。在這篇文章中，我們將介紹評(píng)估電子元件長(zhǎng)期穩(wěn)定性的高溫加速老化方
關(guān)鍵字：電子元件老化，穩(wěn)定性，高溫老化方法

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